Особенности отражения рентгеновского излучения от изогнутых поверхностей (1104153), страница 4
Текст из файла (страница 4)
ЯкимчукИ.В.,РощинВанг Дж. ИсследованиеБ.С.,КожевниковэффекташепчущейИ.В.,галереиАсадчиковнаВ.Е.,сферическойповерхности в жёстком рентгеновском диапазоне // Кристаллография. 2008.Т. 53. №6. С. 1111-1117.2. Геранин А.С., Волков Ю.О., Рощин Б.С., Якимчук И.В., Асадчиков В.Е. ,Смирнов И.С., Шкурко В.Н., Гилёв О.Н., Липин А.В.
Реализация рентгеновскихрефлектометрическихсхемсприменениемразличныхкристаллов-монохроматоров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2010.Т. 76. №4. С. 34-39.3. Прохоров И.А., Захаров Б.Г., Асадчиков В.Е., Буташин А.В., Рощин Б.С. ,Толстихина А.Л., Занавескин М.Л., Грищенко Ю.В., Муслимов А.Э., ЯкимчукИ.В.,ВолковЮ.О.,КаневскийВ.М.,Тихонов Е.О.Характеризациямонокристаллических подложек лейкосапфира рентгеновскими методами иатомно-силовой микроскопией // Кристаллография.
2011. Т. 56. №3.С. 515–521.4. Якимчук И.В., Бузмаков A.В., Асадчиков В.Е., Скибина Ю.С., Скибина Н.Б.,БелоглазовВ.И.Исследованиеэффективностипримененияаксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла налабораторныхисточниках»//Заводскаялаборатория.Диагностикаматериалов.
2011. Т. 77. №6. С. 26-32.5. Геранин А.С., Бузмаков А.В., Волков Ю.О., Золотов Д.А., Рощин Б.С., ЯкимчукИ.В., Асадчиков В.Е., Смирнов И.С., Шкурко В.Н. Реализация рентгеновскихтомографических схем с применением различных кристаллов-монохроматоров// Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. №10.С. 41-44.216. Якимчук И.В., Бузмаков А.В., Андреев А.В., Асадчиков В.Е. Рентгеновскоетомографическое изображение депозита на сферической поверхности // Письмав ЖЭТФ. 2011. Т.
94. В. 9. С. 738-741.7. Якимчук И.В., Бузмаков А.В., Андреев А.В., Асадчиков В.Е. Исследованиекачествавогнутыхсферическихповерхностейскользящимпучкомрентгеновского излучения // Кристаллография 2012. Т. 57. №2. С. 341-344.8. Якимчук И.В., Рощин Б.С., Кожевников И.В., Асадчиков В.Е. Эффект шепчущейгалереи на сферической поверхности в жестком рентгеновском диапазоне //Современные методы анализа дифракционных данных, 1-5 сентября 2008,НовГУ им.
Ярослава Мудрого, Великий Новгород, тезисы докладов, С. 163-165.9. Yakimchuk I.V., Roschin B.S., Kozhevnikov I.V., Asadchikov V.E. Peculiarities of XRay Reflection from a Concave Spherical Surface // X-Ray micro- and nanoprobes2009, Palinuro, Italy, conference theses, P.16.10. Каневский В.М., Асадчиков В.Е., Буташин А.В., Васильев А.Б., Волков Ю.О.,Денисов А.В., Дерябин А.Н., Кожевников И.В., Кривоносов Ю.С., МуслимовА.Э., Рощин Б.С., Семенов В.Б., Тихонов Е.О., Якимчук И.В., Андреев А.В.,Ангелуц А.А., Коновко А.А., Прудников И.Р., Сапожников Д.А., Шкуринов А.П.,Усенов И.Е., Евдокимов М.Г., Рябов А.Ю., Новоселова Е.Г., Смирнов И.С.Получение, исследование и испытание дифракционных решеток металлическихнанопроводов на структурированной поверхности монокристаллическоголейкосапфира» // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С.121.11.
Рощин Б.С., Асадчиков В.Е., Якимчук И.В., Шкурко В.Н., Ахсахалян А.Д.,Шишков В.А. Оптимизация систем управления, регистрации излучения, а такжерентгенооптической схемы дифрактометра ДТС // РСНЭ-НБИК 2009, Москва,тезисы докладов, С. 551.12. Волков Ю.О., Асадчиков В.Е., Буташин А.В., Денисов А.В., Дерябин А.Н.,Каневский В.М., Кожевников И.В., Муслимов А.Э., Рощин Б.С., Семенов В.Б.,Тихонов Е.О., Якимчук И.В. Рентгеновская рефлектометрия в исследованииструктуры приповерхностного слоя сверхгладких подложек из лейкосапфира //РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 164.13.
Геранин А.С., Золотов Д.А., Якимчук И.В., Волков Ю.О., Рощин Б.С., БузмаковА.В., Смирнов И.С., Асадчиков В.Е. Рефлектометрические и томографические22эксперименты с применением кристаллов-монохроматоров различной степенисовершенства // РСНЭ-НБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 572.14. Якимчук И.В., Бузмаков A.В., Кожевников И.В., Асадчиков В.Е., Скибина, Ю.С.,Скибина Н.Б., Белоглазов В.И.
Некоторые рефракционные оптические элементыдля фокусировки и поворота жесткого рентгеновского излучения // РСНЭНБИК 2009, Москва, тезисы докладов, С. 624.15. Якимчук И.В., Кожевников И.В., Асадчиков В.Е., Скибина Ю.С., Политов В.Ю.,Пхайко Н.А., Гилев О.Н. Эллиптические концентраторы для рентгеновскогоизлучения: оптимизация и экспериментальные исследования // Рабочеесовещание «Рентгеновская оптика – 2010», Черноголовка, тезисы докладов,С.136-138.16. Yakimchuk I.V., Buzmakov A.V., Andreev A.V., Asadchikov V.E.
Method of theconcave spherical surface quality investigation based on x-ray whispering galleryeffect // COST MP0601 WG & MC Meetings 30 – 31 May 2011, Dublin, Ireland,http://www.shortwavelengthsources.net17. Якимчук И.В., Бузмаков А.В., Андреев А.В., Асадчиков В.Е. Исследованиекачествавогнутыхсферическихповерхностейскользящимпучкомрентгеновского излучения // Современные методы анализа дифракционныхданных (дифракционные методы для нанотехнологии), 12 – 16 сентября 2011,Великий Новгород, тезисы докладов, С.141-143.18. Минеев Е.В., Якимчук И.В., Асадчиков В.Е., Котляр В.В., Налимов А.Г., ШанинаМ.И., Сойфер В.А., О'Фаолайн Л.
Исследование зонных пластинок дляжесткогорентгеновскогоизлученияналабораторныхисточниках//Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционныеметоды для нанотехнологии), 12 – 16 сентября 2011, Великий Новгород, тезисыдокладов, С. 79-81.19. Якимчук И.В., Бузмаков А.В., Андреев А.В., Асадчиков В.Е.
Выявление дефектоввогнутых сферических поверхностей скользящим рентгеновским пучком //РСНЭ-2011, Москва, тезисы докладов, С. 233.20. Якимчук И.В., Кожевников И.В., Асадчиков В.Е. Влияние конечного размераисточника на эффективность эллиптических концентраторов рентгеновскогоизлучения // РСНЭ-2011, Москва, тезисы докладов, С. 4502321. Yakimchuk I.V., Kozhevnikov I.V., Asadchikov V.E. Ellipsoidal concentrators forlaboratory x-ray sources: analytical optimization // COST MP0601 Final meeting 16– 19 November 2011, Paris, France, http://www.shortwavelengthsources.net24.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
