part_2 (1103592), страница 27
Текст из файла (страница 27)
)))Ош;~<)м 1'. 1)и, (ср<.! ппр п)<(,п, ~)к);)! ллс! 2 3 Д прп папря)ксппп 30 )О В. Изотерми )ескле условия внутри камеры создаются за счсг пептялятора 18, переме)пивающего воздух и релейной схеъ(ы, выключающей напряжение питания, когда температура достигнет заданной и вновь вкл)очающей его при псрсостывании. В качестве датчика для релейной схемы стабилизатора могут использоваться либо контактный термометр, вводимый через отверстие 14, либо термопара 15.
Оии гке служат для измерения температуры газа в кювете. Для установки изотермической камеры в кювстное отделение имеются направляющие пластинки 1б, которые входят в кюветодержатели канала образца и канала сравнения. В центре пластин сделаны отверстия для прохождения светового потока от выходного окна. Окна нз кварца вставляются в углубления в асбоцементных пластинах п плотно прижимаются к охлагкдаемой внутренней стенке корпуса.
Размер выходного отверстия (окна), плохо видного на рис. П.27, равен 15КЗО. Толщина окон около 3 мм, Они хорошо пропуска!от излучение до 2300 см-'. При возможности выбора сорта кварца следует отдать предпочтение «ИК», Боковаи крышка корпуса 2 крепится на винтах и с внутренней стороны закрыта асбоцементной пластинкой с отверстиями для окон. При работе с низкими температурами поридка 100 †2' О водой не охлаждается, а при более высоких на нео необходима напаять змеевик из медной трубки, через который пропускается вода. Исследуемое вещество запапвается под вакуумом в тонкостенный шарик-кювету б диаметром 60 — 70 мм из оптического кварца. Давление пара в шарике задается температурой Т! отростка б диаметром около 10 мм и длиной !00 — 120 мм.
При установке шарика-к<оветы в изотермическую камеру следует абра!цать внимание иа то, чтобы вещество находилось только в отростке. Отросток шаровой кюветы вставляется в кварцсву)о трубку 17, иа которую намотан нагреватель 18 с увеличе)шым числам витков ближе к шарику, чтобы поле температур пе имело «глубокого' прова,ла», где может произойти конденсация вещества, Между кожухом 4 бокового отростка корпуса, охлаждаемаго змеевиком 19 с надай, н нагревателем 18 набивается асбест 20, Длн выравнивания поля температур в зоне вещества можно на каисц отростка б надеть металлический наконечник.
Температура отростка измеряется термопарой 21, которая одновременно служит и датчиком для релейной стабилизапии температурь!. 'Выводы нагревателя 18 подсаедяня)отея к паре токавводов, расположенных симметрично токовводам 12. При относительно нпз. ких температурах для стабилизации температуры испарясмого вещества удобно пользоваться термостатом, Тогда перемычка в системе охлаждения корпуса камеры п отростка размыл(астся и термостатиру)ощая жидкость пропускается через змеевик 19. ХУ!!.
1абстноа Делан!тра зла мааса!вы ! хан с сн а сн осн т а нн !. нн 632, 3 619,2 о!о,г 611,0 '607,0 ' 603,2' 1о 806 921 !0 033 !45 230 362 469 отб Г07,1 603,2 599,4 о95,7 о92,0 обб,б 685,1 !6 467 573 680 783 836 987 17 036 183 275 377 16 785 89! 995 !7099 199 298 395 '581,6 490 578,7 584 575,3 675 761 862 937 !8021 102 183 26! 335 Хт!!1. Ответы к контрольным вопросам К раэлсоу 1 Сериа! Я2,5,8,9) 1 — 3:3,3,"1, !6 — 19:2, 1,4,3 8.— 11 ! 3, 1, 4, 3 24 — 26; 1, 3, 4 12--16: 1, 2, 3, 1 Серна 2 5 10 — 13) 4„3, 2 2! — 25: 3 1,2.
4 20 — 29:2 2, 3, 30 — 31: 3 1,3,1 32 — 36: 3 2, 1, 3, 2 1 — 4'.! б — 8:3 9 — 11: 2 12 — 15 '. 2 16 — 20: 4 2, 2, 4, ! !'! 1, 2, 4, 3 2бб 11! «! . о !. ~ ! т;!с:!!.н!;,;л н,! рнс» ~« и тень!!трут!!!!!!!Г! асос1 ! яс;»!'!! и! хп! ! бр.! ! !,:! и;!;!; час !о т:.
!:!- вить мсгалличеглгпй блгк. В качестве кгоосты сравнения используется второй атарик 27 с коротким отростком, слуткапгит! держателех!. размеры и конструкция нзотермнческой каыеры-ктонсгы приведены для спектрофотометрн ИКО-И. Для других отечественных ИК-гпектрофотометров изменения будут нгзначигельнь!мн, Например, для ИКС- 22 отросток корпуса лосыкеп располага'ться с другой стороны, так как канал образна находится блнтке к псследоватслго. Длн изучения газов, например, равновесия 14сО4 ЯтгОт, когда отсутствует конденсированная фаза, отросток нагревателя можно псклгочитть и всЯ копстРУк!гпа сУпгественно Упйопгаетси.
6 7 8 9 10 !1 12 !3 !4 15 16 17 18 19 20 21 22 "3 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 367,8 об4,7 ЗИ,7 ' 556,9 556,! 553,4 бсо 8' 548,3 545,8 ос43 с Гт!! 2 539,0 536„9 !ь34, 8 532,8 530.9 629 о27,4 525,6 524, 1 17 607 703 797 888 977 18 065 150 234 316 395 473 о48 621 693 762 829 894 956 19 019 070 о95,6 591,9 568 2 664,7 581,3 577,9' 574,7 , '572,6 568,5 566,6 562 8 ; 660,0 557,3 554 8 552,3 549 6 547,5 с15 2 Серия 3 (4 ?, !4. 1!) 1- 4; 1, З, З, 2 13-17; 1, 4, !1, 3, 2 5 — 8;2 3 1 4 18 — 21:4 4 2 1 9.— 12:1, 1,2, 3 Серия 4 (! Ш-20) 1 — 4: 1, 4, 1, 3 !4 — 17 > 3, 2, 1, 4 5 — 9: 1, 4, 2, 3, 3 Га - .22: 3, 3, 1, 3, 3 !Π— 13: 1, 2, 4, 1 23 — 26: 2, 1, 2, 4 К рае лу )1 Серия 1 (4 ! — 3) 1 — 4:1,4,1,317 — 20:3,3,4,3 5 — 8: '!', 4, 'г, 'З 2! — 24: З, '!, 'З'.
! 9 — 12 , '4, 2, 4, ! 25- 28: 4, 4, 1, 4 ГЗ вЂ” Гв:3, 2, Серия 2 (! 4 — 20) 1-- 4!2,3, 1,4 5 — 8:2, 1,2,4 9 — 12:4,3,2,! 13 — 10;3,1,4,2 17 — 20: 2, 4, 1, 3 21 — 24: 3. 4, 2, ! Х!Х. Программа коллоквиума по молекулярной спектроскопии 1. Спектры и строение молекул Система энергетических состояний атома. Система электролных, колебательных н вращательных энергетических состояний двухатомиых молекул.
Распределение молекул ио энергетическим состояниям и зависимость его ог температуры. Принципы расчета термодинамичсскнх функций методами статистической термодинамики. Возникновение спектров ири изменении энергетического состояния молекулы. Единицы измерения в спектроскопии. Области спектра (шкала магнитных колебаний), которые соответству!ат изменениям различных энергетических состояний молекулы. Правила отбора для переходов между энергетическими состояниями. Вращательные, колебательиые и электронные спектры нагло!ценна и испускания.
Спектры резонансной флк>аресцеиции н комбинационного рассеяния. Вращательная энергия двухатомной молекулы. Микроволновые спектры и вращательные спектры комбинационного рассеяния. Определение мсжъядерных расстояний из вращательных спектров. Соотношение между главными моментами инерции в многоатомных молекулах, Колебательная энергия двухатомных молекул. Зависимость потенциальной энсргии двухатамной молекулы от межъядсрного расстояния. Функция Морзе. Энергия диссоциацнн. Ко, юбя >с.и и иир;>шато.>ьиыс сясь > ры (ипфрикрисиьи и ьо»- бинацноппого рассеяния) двухагомиых молекул. Определение частот колебаний и межъядериых расс>ояни>с Колебательные спектры мпогоатомных молекул в каяденсираванной 'фазе.
Критерий проявлении различных форм колебаний (активность колебаний) в ИК- и КР-спектрах иа примсрс молекул СО, н 11еО. Зависимость интенсивности линий в ИК- и КР-спектрах от температуры. Инфракрасная спектроскаиия и структурно.групповой (функциональный) анализ. Электронная энергия двухатомных молекул. Электронные (полосатые) спектры двухатамных молекул.
Колебательная и вращательная структура электронных спектров. Таблица Деландра. Определение частот колебаний. Спектральные методы определения энергии диссоциации двухатомиых молекул. Принцип Франка — Каидона на примере двухатомпых молекул. Изотопические эффекты в молекулярных спектрах на примере двухатомпых молекул. Электронные спектры поглощения многоатомных молекул.
Закон светопоглощения Бугера — Ламберта — Вера н условия его выполнимости. Пропускание, оптическая плотное>ь, коэффициент поглощения, Количественная спектроскопия. Применение спектроскопии в химии (изучение строения молекул, качественный н количественный анализ по колебательным п электронным спектрам, термодинамика, кииетика и т. д.), 2. Техника н методы молекулярной спсктроскапии Принципиальная схема спектральных приборов, Дисперсия, разрсша!ошая способность, светосила.
Классификация спектральных приборов. Устройство сиектрографа ИСП-б! и ега оптическая схема Различные источники свсгз. Методика измерения длин воли на фотопластинках. Сиектроираектары ПС-!8 и СПП-2. Измерительный микроскоп МИР-12. Фотагра!)>ические материалы и их обработка. Методика съемки спектров комбинационного рассеяния с помощью ртутной лампы и лазера. Устройство осветителя. К>аветы. Светофильтры. Техника инфракрасной спектроскопии. Источники н приемяикп инфракрасного излучения, Прнищ>пиальиая оптическая схема и устройство ИК-спектрофотамстров. Градуировка приборов ио эталонным спектрам, Измерение электронных спектров поглощенна. Устройство я оптическая схема спектрофотометрав для ультрафиолетовой, видимой и близкой ИК-области.