Исследование диэлектрических свойств сегнетоэлектрических кристаллов и тонких пленок методом тепловых шумов (1103154)
Текст из файла
.01.04.07 –2011.,,.13.2011 . 15:30501.002.01.: 119991,,,-1,.., . 1,. 2,,.«»2011.501.002.01,.,,.,,-.,,.,,,,.,,,,1 .,10−100.,––.-,,.1000101 ,/c .,.,,.,,-.,«»»,«.,.,.10,,,,,1,1,-.(-),.3,,,-.-,,,.,,,,,.,,,,,.-..,,,(initial dielectric permittivity),..,,,−.,-..,,,–, ,,−.,-,:1.((NH2CH2COOH)3·H2SO4) (),-.42.(BaTiO3),,-(. .3.(MIT),).,,(.-.()).4.250-300PLD (Pulsed Laser Deposition)(Au) SrRuO3 (. .((SiO2))(,)).5.PLD)(-250-600(Au) SrRuO3 ().SrTiO3,-.,BaTiO3.,.,,,,.,,-..:1.LabVIEW,.2.BaTiO3..3.,,-,.4.,.5.,-5.,1.-..,,(,...).....,:1. VI«LabVIEW,National Instruments» (,2007);2.–2008” (, 2008);–2009” (, 2009);3.4.(, 2009);5.
XXII«», 2010).63.2,9,-.136,125,,3103.-.:,,,,,-.,,,,.,..-..[1].,-..“”,“”..-,[2].§ 1.4,.-,...,.,,..,7,.“”,-.,,-.[3].,,.(,§ 1.7.),,,-.[4].,...,,,,..,.-,.,,-,.,()..,,(,,-,.)..,.,.,-(),,.,8.,,-,,,.-,.,,.,.-,,,–9–710 -10().-,,.,-..,,...,-.,-..,.,U2 ,T,(R,)∆νU2,-:U 2 = 4kTR∆ν ,k–.,(1),,.,-.9[5].1010-,.1010..,,-..-,.[6],,-[5].,.-.,.,,.-[6][5](. 1).[7]KDP,,-,,1..[8]-...,. 1.-.
2.-,[6].[8].10.,.-,,,(. 2).-2°C.,,-.,-,[9].[10]SCE-9.),-(..,S I (ω ) =C = C ′ + iC ′′ –dI 2dν-= 4kTωC ′′(ω ) ,(2)ε = ε ′ + iε ′′ .,,,[10],..,.,..,,,.().,,.,,,,.,,,11,(,)..,.,,,,.(),.-,.,,.-,LabVIEW,.(. 3),.. 3..,(125)12.,-,.,.,125-...DAQ USB-6221.– 16..10125,,NI250,,.LabVIEW...,,,,.(. 3):,-.RC.RL.SR-560 (4100– 125)-NI-DAQ USB-6221.LabVIEW.,-..-,.,-.NI-DAQ USB-600914.4.R = 5080 ..,.“”,(.)-,13“”,.-.LabVIEW.0,02,20 ºC200 ºC.LabVIEW.)“FFT” (LabVIEW.,.-.,,.,R>>RLUmax:4kT(arctan(2πRL Cν max ) − arctan(2πRL Cν min ))πC,U2 =min2–(3).,.-...-,1:,,10301001.-,<1010 – 5050 – 100100 – 200200 – 500500 – 10001000 – 3000<1010 – 5050 – 1000 – 10010 – 9010 – 805 – 605 – 505 – 305 – 200 – 10010 – 805 – 60,%201594,543,531063100 – 2005 – 502,6200 – 500500 – 10001000 – 3000<1010 – 5050 – 100100 – 200200 – 500500 – 10001000 – 30005 – 305 – 205–70 – 1005 – 605 – 505 – 305 – 205–75 – 5,52,42,224221,410,80,6.14,.-.,.30,...KFePbPtF%(Top Seed Solution Growth) ()().2,BaTiO3,..4--–0,02–0,07–0,120,050,190,2380,562.().5..
4.-BaTiO3,. 5.BaTiO3,,..,,,-,... 6).15.-.,,.,. 7.,-.. 6.BaTiO3 (a, c, e)(c, d);(b, d, f)(a, b);(e, f).16. 7.BaTiO3...8,.,,,,.,-,,Tc+1 K,15-20%,-,.. 8.,.,-,..,.9(-)17,,(-).. 9.-..,(),(.-).:..,,,.(. 10).,BaTiO3SrRuO3,[11], ,(.. 14).(,. 11).,.,-,,-.,.,,110°C,(130°C).-.18ab. 10.TiO3250,( ) (1,5)(b) (0,2)Ba-.ab. 11.BaTiO3250,( )(1,5)(b) (0,2-).((. 12).
13).,.. 14.RbRe –Cb –, Rd“”.,Cd –,,,.,,,( ,19,)-.ab. 12.(a)(b)ab. 13. C(a) ((b) (.SrTiO3)BaTiO3RbRbRea. 14.BaTiO3..ReCbSiO2)250-RdCbCdb(a)(b)20,-.BaTiO3BaTiO3.:1..2.,.3.,.4.,.:5.,,.6.,.,,-,.,,,,.,,,,,,-..:7..,,.8.,.21,,-.,–.-,.,-..1..,.,,«2007,2..LabVIEW.
293–301.,National Instruments»,., 23–244..,.,–2008”,., 2008,“.”.,, XVIII,,,-.,–2009”,.“”.,,,,. 124.“5.,-,9–14-,“3.VI, 6–8, 2009,-. 267–268.6. I. Shnaidshtein, P. Bednyakov, First application of the thermal noise method for studyingferroelectrics thin films, Book of abstracts International conference “Functional materialsand nanotechnologies 2010”, Riga (Latvia), 16–19 March, 2010, Institute of Solid StatePhysics University of Latvia, p. 50.7. B.A. Strukov, I.V. Shnaidshtein, S.T. Davitadze, P.S. Bednyakov, V.V. Lemanov,S.G. Shulman, Y. Uesu, S. Asanuma, B. Noheda, A. Vlooswijk, D.
Schlom, A. Soukiassian,Abstract book of the 10th Russia/CIS/Baltic/Japan Symposium on Ferroelectricity (RCBJSF10), Yokohama (Japan), 20–24 June, 2010, RCBJSF-10, p. 41.8. I. Shnaidshtein, P. Bednyakov, On possibility of the measurements of the dielectric properties of thin ferroelectric films by means of the thermal noise method, Abstract book of the10th Russia/CIS/Baltic/Japan Symposium on Ferroelectricity (RCBJSF-10), Yokohama (Japan), 20–24 June, 2010, RCBJSF-10, p. 216.229..,.,.,,, 5,124–129 (2010).10.
P.S. Bednyakov, I.V Shnaidshtein, B.A. Strukov, Y. Uesu, S. Asanuma, Frequency dependence of dielectric permittivity and thermal noise for BaTiO3 thin films and bulk crystals, XXII«»,, 14–17, 2010,,. 110–111.11..,.,.,BaTiO3,, 53,.., 24,2, 289–296 (2011).1..,.,.,...2.11, 1357-1361 (1960).,.,....-,.1..(2007)3. J. Liu, C-G Duan, W-G Y, W.N. Mei, R.W.
Smith, J.R. Hardy. Large dielectric constant andMaxwell-Wagner Relaxation n Bi2/3Cu3Ti4O12. Phys. Rev. B, 70, 14, 144106 (2004).4. M. Tyunina. Size effects and dielectric behavior in ferroelectric heterostructures. J. Phys: Cond.Matt., 18, 24, 5725-5738 (2006).5. J.J. Brophy and S.L. Webb.
Critical fluctuations in triglycine sulfate. Phys. Rev., 128, 2, 584588 (1962).6. Yo. Ishibashi, A. Sawada, Yu. Takagi. Dielectric constant of triglycine sulfate crystals by meansof thermal noise method. J. Phys. Soc. Jpn. 27, 3, 705-707 (1969).7. M. Tsukamoto, E. Nakamura, T. Ozaki. Measurement of initial dielectric constant of KH2PO4by thermal noise method. J. Phys. Soc.
Jap., 42, 1 190-193 (1976).8. L. Godefroy. Noise measurements in ferroelectrics. J. Phys. Colloques 33, C2-44-C2-48 (1972)9...... 1986.10. I. Musevic, A. Kityk, M. Skarabot, R. Blinc. Polarization Noise in a Ferroelectric Liquid Crystal. Phys. Rev.
Lett., 79, 6, 1062-1065 (1997).11. J. Junquera, P. Ghosez. Critical thickness for ferroelectricity in perovskite ultrathin films.Nature, 422, 3, 506-509 (2003).23.
Характеристики
Тип файла PDF
PDF-формат наиболее широко используется для просмотра любого типа файлов на любом устройстве. В него можно сохранить документ, таблицы, презентацию, текст, чертежи, вычисления, графики и всё остальное, что можно показать на экране любого устройства. Именно его лучше всего использовать для печати.
Например, если Вам нужно распечатать чертёж из автокада, Вы сохраните чертёж на флешку, но будет ли автокад в пункте печати? А если будет, то нужная версия с нужными библиотеками? Именно для этого и нужен формат PDF - в нём точно будет показано верно вне зависимости от того, в какой программе создали PDF-файл и есть ли нужная программа для его просмотра.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
