annot_28.04.01_fmnemst_o_2016 (1087783), страница 3

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 3)

Место дисциплины в структуре ООП магистратурыДисциплина «Оптические методы диагностики наносистем» относится к вариативнойчасти профессионального цикла (дисциплины по выбору).3. Общая трудоемкость дисциплины составляет 5 зачетных единиц (180 часов).Формы промежуточной аттестации – экзамен.Аннотация к рабочей программе дисциплиныБ1.В.ДВ.1.2 Моделирование и проектирование микросистемНаправление подготовки «Нанотехнологии и микросистемная техника»Магистерская программа «Функциональные материалы для наноэлектроники имикросистемной техники»1.

Цель освоения дисциплиныДисциплина «Моделирование и проектирование микросистем» имеет своей цельюформировать у обучающихся общекультурные (ОК-2, ОК-3) компетенции в соответствиис требованиями ФГОС ВО по направлению подготовки 28.04.01 Нанотехнологии имикросистемная техника (квалификация (степень) «магистр»)В результате изучения дисциплины обучающийся должен:Знать: Основные этапы и закономерности исторического развития общества дляформирования гражданской позиции (Ок-2). Основы экономических знаний при оценке эффективности результатовдеятельности в области проектирования и применения микросистем (Ок-3). Основные области применения микросистем. Основные преимущества МЭМС. Основные свойства кремния как конструкционного материала для МЭМС. Типовыекомбинации материалов (микростркутура/жертвенный слой). Математические методы, применяющиеся для моделирования устройствмикросистемной техники.

Основные приемы методов конечных разностей иконечных элементов. Типовые технологические операции, применяемые для создания МЭМС. Особенности проектирования систем в корпусе. Основные пакеты САПР, применяющиеся для проектирования и моделированиямикро и наносистем. Особенности маршрутов проектирования «сверху-вниз» и «снизу-вверх». Типы и особенности проектирования устройств чувствительности иисполнительных элементов МЭМС. Различные источники и базы данных, необходимые для для проектирования имоделирования микро и наносистем, в том числе и с использованиемкомпьютерных и сетевых технологий.Уметь: Анализировать основные этапы и закономерности исторического развитияобщества для формирования гражданской позиции (Ок-2). Применять основы экономических знаний при оценке эффективности результатовдеятельности в области проектирования и применения мискросистем (Ок-3). Применять современные инструменты САПР для проектирования устройствмикросистемной техники. Осуществлять поиск, хранение, обработку и анализ информации из различныхисточников и баз данных, представлять ее в требуемом для проектирования имоделирования микросистем формате с использованием компьютерных и сетевыхтехнологий. Представлять данные моделирования в виде, удобном для дальнейшего анализа иоптимизации конструктивно-технологических решений. Проводить физико-математическое моделирование процессов нанотехнологий иобъектов микроситемной техники с использованием современных инструментовхотя бы одного пакета САПР для МЭМС. Проводить модельные и экспериментальные исследования по синтезу и анализуматериалов и компонентов микросистемной техники.Владеть: Способностью анализировать основные этапы и закономерности историческогоразвития общества для формирования гражданской позиции (Ок-2). Способностью использовать основы экономических знаний при оценкеэффективности результатов деятельности в области проектирования и применениямискросистем (Ок-3). Способностью проводить физико-математическое моделирование процессовнанотехнологий и объектов микроситемной техники с использованиемсовременных инструментов хотя бы одного пакета САПР для МЭМС. Способностью проводить модельные и экспериментальные исследования посинтезу и анализу материалов и компонентов микросистемной техники. Способностью осуществлять поиск, хранение, обработку и анализ информации изразличных источников и баз данных, представлять ее с использованиемкомпьютерных и сетевых технологий в формате, требуемом для проектирования имоделирования микросистем.2.

Место дисциплины в структуре ООП магиструтурыДисциплина «Моделирование и проектирование микросистем» относится к основной(вариативной) части профессионального цикла.3. Общая трудоемкость дисциплины составляет 5 зачетные единицы (180 часов)Формы промежуточной аттестации – экзамен.Аннотация к рабочей программе дисциплиныБ1.В.ДВ.2.1 «Контроль качества наноматериалов»Направление подготовки «Нанотехнологии и микросистемная техника»Магистерская программа «Функциональные материалы для наноэлектроники имикросистемной техники»1. Цель освоения дисциплиныДисциплина «Контроль качества наноматериалов» имеет своей целью формировать уобучающихся общекультурные (ОК-7 , ОК-10 ,ОК-11) и профессиональные (ПК-3, ПК-6,ПК-16) компетенции в соответствии с требованиями ФГОС ВО по направлениюподготовки 28.04.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника.(квалификация«магистр»)В результате изучения дисциплины обучающийся должен:Знать: Основные физические законы в области термодинамики, электричества,магнетизма, оптики, квантовой физики; Основные понятия и методы математического анализа, линейной алгебры,обыкновенных дифференциальных уравнений;Уметь: Анализировать и синтезировать научно-техническую информацию по тематикеисследований; Составление рефератов и докладов на научных конференциях по заданнойтематике.Владеть: Основными методами и средствами получения, хранения и обработки информации Навыками работы с компьютерными системами и устройствами.2.

Место дисциплины в структуре ООП магистратуры.Дисциплина «Контроль качества наноматериалов» относится к основной частипрофессионального цикла.3. Общая трудоемкость дисциплины составляет 4 зачетные единицы (144 часа)Формы промежуточной аттестации – зачет.Аннотация к рабочей программе дисциплиныБ1.В.ДВ.2.2 «Диагностика микросистем»Направление подготовки «Нанотехнологии и микросистемная техника»Магистерская программа «Функциональные материалы для наноэлектроники имикросистемной техники»1.

Цель освоения дисциплиныДисциплина «Диагностика микросистем» имеет своей целью формировать у обучающихсяобщекультурные (ОК-2, ОК-3) компетенции в соответствии с требованиями ФГОС ВО понаправлению подготовки 28.04.01 Нанотехнологии и микросистемная техника(квалификация (степень) «магистр»В результате изучения дисциплины обучающийся должен:Знать:Физические принципы, лежащие в основе наиболее распространенныхэкспериментальных методов диагностики и анализа микросистем;Наиболее распространённые методы диагностики и анализа микросистем Области применения наиболее распространённых методов диагностики и анализамикросистем;Уметь:Осуществлять выбор методов диагностики, используемых при разработке иизготовлении компонентов микросистемной техники;Осуществлять выбор условий реализации и границ применения методовдиагностики микросистем; Анализировать и систематизировать результаты исследований, представлятьматериалы в виде научных отчетов, публикаций, презентаций.Владеть: Навыками применения современных методов диагностики компонентовмикросистемной техники, Навыками интерпретации экспериментальных результатов; Навыками работы с аппаратурой, используемой для целей диагностики изделиймикросистемной техники. Навыками анализа и систематизации результатов исследований, представленияматериалов в виде научных отчетов, публикаций, презентаций.2.

Место дисциплины в структуре ООП магистратурыДисциплина «Диагностика микросистем» относится к вариативной частипрофессионального цикла.3. Общая трудоемкость дисциплины составляет 4 зачетных единицы (144 часа)Формы промежуточной аттестации – экзамен.Аннотация к рабочей программе дисциплиныБ1.В.ДВ.3.1 «Мультиферроидные материалы и устройства»Направление подготовки «Нанотехнологии и микросистемная техника»Магистерская программа «Функциональные материалы для наноэлектроники имикросистемной техники»1.

Цель освоения дисциплиныДисциплина «Мультиферроидные материалы и устройства» имеет своей цельюформировать у обучающихся общекультурные (ОК-2, ОК-3) компетенции в соответствиис требованиями ФГОС ВО по направлению подготовки 28.04.01 Нанотехнологии имикросистемная техника (квалификация «магистр»).В результате изучения дисциплины обучающийся должен:Знать: Типы мультиферроидных и магнитоэлектрических материалов и технологии ихизготовления; Методы исследования характеристик мультиферроидных и магнитоэлектрическихматериалов; Области применения мультиферроидных и магнитоэлектрических материалов иустройств.Уметь: Использовать на практике умения и навыки в организации исследовательских ипроектных работ, в управлении коллективом; Общаться с коллегами в научной, производственной и социально-общественнойсферах деятельности.Владеть: Умениями и навыками организации исследовательских и проектных работ.2.

Место дисциплины в структуре ООП бакалавриатаДисциплина «Мультиферроидные материалы и устройства» относится к вариативнойчасти профессионального цикла.3. Общая трудоемкость дисциплины составляет 3 зачетные единицы (108 часов).Формы промежуточной аттестации – зачет.Аннотация к рабочей программе дисциплиныБ1.В.ДВ.3.2 «Фемтосекундные лазерные системы»Направление подготовки «Нанотехнологии и микросистемная техника»Магистерская программа «Функциональные материалы для наноэлектроники имикросистемной техники»1. Цель освоения дисциплиныДисциплина «Фемтосекундные лазерные системы» имеет своей целью формировать уобучающихся общекультурные (ОК-2, OK-3) компетенции в соответствии с требованиямиФГОС ВО по направлению подготовки 28.04.01 Нанотехнологии и микросистемнаятехника (квалификация (степень) «магистр»)В результате изучения дисциплины обучающийся должен:Знать: Базовые принципы функционирования фемтосекундных лазерных систем. Основные характеристики и области применения фемтосекундных лазерныхсистем.Уметь: Определять и фиксировать основные рабочие параметры фемтосекундныхлазерных систем. Проводить расчет и подбор параметров оптических элементов для фокусировки,фильтрации и обработки фемтосекундного лазерного излучения.Владеть: Навыками проведения расчетов параметров оптических элементов дляфокусировки и обработки фемтосекундного лазерного излучения. Навыками безопасной работы с фемтосекундным лазерным излучением.2.

Характеристики

Список файлов учебной работы