ОНЭиНТ_Сидорова_Л3(4,5) (1040994), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Контрольные вопросы 1. Поверхностное натяжение и краевой угол смачивания: методы измерения и оценки. 2. Преимущества и недостатки метода кольца Дью Нуи. 3. Преимущества и недостатки метода пластины Вильгельми. 4. Измерение малого поверхностного натяжения. 5. Оценка смачиваемости пористых материалов. 6. Оценка смачиваемости поверхности со сложным рельефом.
Темы рефератов (на следующее занятие) 9. Формирование полупроводниковых и металлических нановолокон и спиралей. 10. Автоэмиссионные наноструктуры и приборы на их основе. 11. Микро-‐ и наноэлектромеханические системы: идеология и принципы функционирования. 12. Наноиндентирование: виды, возможности и оборудование. .















