Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
2021-11-252021-11-25СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
704
Размер
3,07 Mb
Список файлов
Комментарии

Если у вас есть возможность. пометьте, что это 0-7 по методичке 1991 года, т.к. есть 2 методички для этой лабораторной