Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Метрология, стандартизация и сертификация (МСиС)Борман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого телаБорман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого тела
2017-12-212017-12-21СтудИзба
Книга: Борман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого тела
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики книги
Тип
Учебное заведение
Просмотров
169
Скачиваний
6
Размер
6,12 Mb
Список файлов
Хочешь зарабатывать на СтудИзбе больше 10к рублей в месяц? Научу бесплатно!
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать