Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Методы диагностики в нанотехнологияхОтчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопииОтчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии
2017-12-282017-12-28СтудИзба
Лабораторная работа: Отчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии
Описание
Цель и задачи работы
Освоение основ метода сканирующей зондовой микроскопии. Изучение устройства атомно-силового микроскопа на базе комплекса «NTEGRA Spectra». Знакомство с режимами атомно-силовой микроскопии при исследовании топографии поверхности образца.
Освоение основ метода сканирующей зондовой микроскопии. Изучение устройства атомно-силового микроскопа на базе комплекса «NTEGRA Spectra». Знакомство с режимами атомно-силовой микроскопии при исследовании топографии поверхности образца.
Характеристики лабораторной работы
Учебное заведение
Семестр
Просмотров
157
Покупок
0
Качество
Идеальное компьютерное
Размер
353,16 Kb
Список файлов
- Отчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии.docx 449,84 Kb
Хочешь зарабатывать на СтудИзбе больше 10к рублей в месяц? Научу бесплатно!
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать