Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Метрология, стандартизация и сертификация (МСиС)Richard Leach - Fundamental prinsiples of engineering nanometrologyRichard Leach - Fundamental prinsiples of engineering nanometrology
2017-12-212017-12-21СтудИзба
Книга: Richard Leach - Fundamental prinsiples of engineering nanometrology
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики книги
Тип
Учебное заведение
Просмотров
153
Скачиваний
8
Размер
6,81 Mb
Список файлов
Хочешь зарабатывать на СтудИзбе больше 10к рублей в месяц? Научу бесплатно!
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать