Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Метрология, стандартизация и сертификация (МСиС)Борман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого телаБорман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого тела
2017-12-212017-12-21СтудИзба
Книга: Борман В.Д. - Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твёрдого тела
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики книги
Тип
Учебное заведение
Просмотров
169
Размер
6,12 Mb
Список файлов

Зарабатывай на студизбе! Просто выкладывай то, что так и так делаешь для своей учёбы: ДЗ, шпаргалки, решённые задачи и всё, что тебе пригодилось.
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать