СтудИзба » ВУЗы » МГТУ им. Баумана » Файлы МГТУ им. Баумана » 6 семестр » Методы диагностики в нанотехнологиях » Лабораторные работы » Отчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии

Отчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии

-9%

Описание

Цель и задачи работы
Освоение основ метода сканирующей зондовой микроскопии. Изучение устройства атомно-силового микроскопа на базе комплекса «NTEGRA Spectra». Знакомство с режимами атомно-силовой микроскопии при исследовании топографии поверхности образца.

Картинка-подпись

Список файлов в архиве

  • Отчёт - Исследования поверхности методом атомно-силовой микроскопии.docx 449,84 Kb

Комментарии

Дата публикации 28 декабря 2017 в 08:58
Рейтинг -
0
0
0
0
0
Автор zzyxel (4,55 из 5)
Цена 109 руб.
Качество Идеальное компьютерное
Покупок 0
Просмотров 152
Скачиваний 1
Размер 353,16 Kb
Жалоб Не было ни одной удовлетворённой жалобы на этот файл.
Безопасность Файл был вручную проверен администрацией в том числе и на вирусы