Исследование диэлектрических свойств сегнетоэлектрических кристаллов и тонких пленок методом тепловых шумов
Описание файла
PDF-файл из архива "Исследование диэлектрических свойств сегнетоэлектрических кристаллов и тонких пленок методом тепловых шумов", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МГУ им. Ломоносова. Не смотря на прямую связь этого архива с МГУ им. Ломоносова, его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
.01.04.07 –2011.,,.13.2011 . 15:30501.002.01.: 119991,,,-1,.., . 1,. 2,,.«»2011.501.002.01,.,,.,,-.,,.,,,,.,,,,1 .,10−100.,––.-,,.1000101 ,/c .,.,,.,,-.,«»»,«.,.,.10,,,,,1,1,-.(-),.3,,,-.-,,,.,,,,,.,,,,,.-..,,,(initial dielectric permittivity),..,,,−.,-..,,,–, ,,−.,-,:1.((NH2CH2COOH)3·H2SO4) (),-.42.(BaTiO3),,-(. .3.(MIT),).,,(.-.()).4.250-300PLD (Pulsed Laser Deposition)(Au) SrRuO3 (. .((SiO2))(,)).5.PLD)(-250-600(Au) SrRuO3 ().SrTiO3,-.,BaTiO3.,.,,,,.,,-..:1.LabVIEW,.2.BaTiO3..3.,,-,.4.,.5.,-5.,1.-..,,(,...).....,:1. VI«LabVIEW,National Instruments» (,2007);2.–2008” (, 2008);–2009” (, 2009);3.4.(, 2009);5.
XXII«», 2010).63.2,9,-.136,125,,3103.-.:,,,,,-.,,,,.,..-..[1].,-..“”,“”..-,[2].§ 1.4,.-,...,.,,..,7,.“”,-.,,-.[3].,,.(,§ 1.7.),,,-.[4].,...,,,,..,.-,.,,-,.,()..,,(,,-,.)..,.,.,-(),,.,8.,,-,,,.-,.,,.,.-,,,–9–710 -10().-,,.,-..,,...,-.,-..,.,U2 ,T,(R,)∆νU2,-:U 2 = 4kTR∆ν ,k–.,(1),,.,-.9[5].1010-,.1010..,,-..-,.[6],,-[5].,.-.,.,,.-[6][5](. 1).[7]KDP,,-,,1..[8]-...,. 1.-.
2.-,[6].[8].10.,.-,,,(. 2).-2°C.,,-.,-,[9].[10]SCE-9.),-(..,S I (ω ) =C = C ′ + iC ′′ –dI 2dν-= 4kTωC ′′(ω ) ,(2)ε = ε ′ + iε ′′ .,,,[10],..,.,..,,,.().,,.,,,,.,,,11,(,)..,.,,,,.(),.-,.,,.-,LabVIEW,.(. 3),.. 3..,(125)12.,-,.,.,125-...DAQ USB-6221.– 16..10125,,NI250,,.LabVIEW...,,,,.(. 3):,-.RC.RL.SR-560 (4100– 125)-NI-DAQ USB-6221.LabVIEW.,-..-,.,-.NI-DAQ USB-600914.4.R = 5080 ..,.“”,(.)-,13“”,.-.LabVIEW.0,02,20 ºC200 ºC.LabVIEW.)“FFT” (LabVIEW.,.-.,,.,R>>RLUmax:4kT(arctan(2πRL Cν max ) − arctan(2πRL Cν min ))πC,U2 =min2–(3).,.-...-,1:,,10301001.-,<1010 – 5050 – 100100 – 200200 – 500500 – 10001000 – 3000<1010 – 5050 – 1000 – 10010 – 9010 – 805 – 605 – 505 – 305 – 200 – 10010 – 805 – 60,%201594,543,531063100 – 2005 – 502,6200 – 500500 – 10001000 – 3000<1010 – 5050 – 100100 – 200200 – 500500 – 10001000 – 30005 – 305 – 205–70 – 1005 – 605 – 505 – 305 – 205–75 – 5,52,42,224221,410,80,6.14,.-.,.30,...KFePbPtF%(Top Seed Solution Growth) ()().2,BaTiO3,..4--–0,02–0,07–0,120,050,190,2380,562.().5..
4.-BaTiO3,. 5.BaTiO3,,..,,,-,... 6).15.-.,,.,. 7.,-.. 6.BaTiO3 (a, c, e)(c, d);(b, d, f)(a, b);(e, f).16. 7.BaTiO3...8,.,,,,.,-,,Tc+1 K,15-20%,-,.. 8.,.,-,..,.9(-)17,,(-).. 9.-..,(),(.-).:..,,,.(. 10).,BaTiO3SrRuO3,[11], ,(.. 14).(,. 11).,.,-,,-.,.,,110°C,(130°C).-.18ab. 10.TiO3250,( ) (1,5)(b) (0,2)Ba-.ab. 11.BaTiO3250,( )(1,5)(b) (0,2-).((. 12).
13).,.. 14.RbRe –Cb –, Rd“”.,Cd –,,,.,,,( ,19,)-.ab. 12.(a)(b)ab. 13. C(a) ((b) (.SrTiO3)BaTiO3RbRbRea. 14.BaTiO3..ReCbSiO2)250-RdCbCdb(a)(b)20,-.BaTiO3BaTiO3.:1..2.,.3.,.4.,.:5.,,.6.,.,,-,.,,,,.,,,,,,-..:7..,,.8.,.21,,-.,–.-,.,-..1..,.,,«2007,2..LabVIEW.
293–301.,National Instruments»,., 23–244..,.,–2008”,., 2008,“.”.,, XVIII,,,-.,–2009”,.“”.,,,,. 124.“5.,-,9–14-,“3.VI, 6–8, 2009,-. 267–268.6. I. Shnaidshtein, P. Bednyakov, First application of the thermal noise method for studyingferroelectrics thin films, Book of abstracts International conference “Functional materialsand nanotechnologies 2010”, Riga (Latvia), 16–19 March, 2010, Institute of Solid StatePhysics University of Latvia, p. 50.7. B.A. Strukov, I.V. Shnaidshtein, S.T. Davitadze, P.S. Bednyakov, V.V. Lemanov,S.G. Shulman, Y. Uesu, S. Asanuma, B. Noheda, A. Vlooswijk, D.
Schlom, A. Soukiassian,Abstract book of the 10th Russia/CIS/Baltic/Japan Symposium on Ferroelectricity (RCBJSF10), Yokohama (Japan), 20–24 June, 2010, RCBJSF-10, p. 41.8. I. Shnaidshtein, P. Bednyakov, On possibility of the measurements of the dielectric properties of thin ferroelectric films by means of the thermal noise method, Abstract book of the10th Russia/CIS/Baltic/Japan Symposium on Ferroelectricity (RCBJSF-10), Yokohama (Japan), 20–24 June, 2010, RCBJSF-10, p. 216.229..,.,.,,, 5,124–129 (2010).10.
P.S. Bednyakov, I.V Shnaidshtein, B.A. Strukov, Y. Uesu, S. Asanuma, Frequency dependence of dielectric permittivity and thermal noise for BaTiO3 thin films and bulk crystals, XXII«»,, 14–17, 2010,,. 110–111.11..,.,.,BaTiO3,, 53,.., 24,2, 289–296 (2011).1..,.,.,...2.11, 1357-1361 (1960).,.,....-,.1..(2007)3. J. Liu, C-G Duan, W-G Y, W.N. Mei, R.W.
Smith, J.R. Hardy. Large dielectric constant andMaxwell-Wagner Relaxation n Bi2/3Cu3Ti4O12. Phys. Rev. B, 70, 14, 144106 (2004).4. M. Tyunina. Size effects and dielectric behavior in ferroelectric heterostructures. J. Phys: Cond.Matt., 18, 24, 5725-5738 (2006).5. J.J. Brophy and S.L. Webb.
Critical fluctuations in triglycine sulfate. Phys. Rev., 128, 2, 584588 (1962).6. Yo. Ishibashi, A. Sawada, Yu. Takagi. Dielectric constant of triglycine sulfate crystals by meansof thermal noise method. J. Phys. Soc. Jpn. 27, 3, 705-707 (1969).7. M. Tsukamoto, E. Nakamura, T. Ozaki. Measurement of initial dielectric constant of KH2PO4by thermal noise method. J. Phys. Soc.
Jap., 42, 1 190-193 (1976).8. L. Godefroy. Noise measurements in ferroelectrics. J. Phys. Colloques 33, C2-44-C2-48 (1972)9...... 1986.10. I. Musevic, A. Kityk, M. Skarabot, R. Blinc. Polarization Noise in a Ferroelectric Liquid Crystal. Phys. Rev.
Lett., 79, 6, 1062-1065 (1997).11. J. Junquera, P. Ghosez. Critical thickness for ferroelectricity in perovskite ultrathin films.Nature, 422, 3, 506-509 (2003).23.