ФХОЭТ_список литературы (Лекции ФХОЭТ)
Описание файла
Файл "ФХОЭТ_список литературы" внутри архива находится в папке "Лекции ФХОЭТ". PDF-файл из архива "Лекции ФХОЭТ", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-химические основы электронных и нанотехнологий" из 4 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лекции и семинары", в предмете "физико-химические основы электронных и нанотехнологий" в общих файлах.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
С.В.Сидорова«Физико-химическиеосновыэлектронныхтехнологий»2015–2016уч.г.,IIсеместрОсновнаялитература1. ГоловинЮ.И.Основынанотехнологий/ГоловинЮ.И.-М.:Машиностроение,2012.-653с.:ил.-Библиогр.:с.17-18,вконцеглав.-ISBN978-5-94275-662-8.2. ПанфиловЮ.В.,УтенковВ.М.,МихайловВ.П.Физико-механическиекомпонентынаносистем:учеб.-метод.комплекспотем.направлениюдеятельностиННС"Наноинженерия":учеб.пособиедлявузов/ПанфиловЮ.В.,УтенковВ.М.,МихайловВ.П.;ред.ШахновВ.А.-М.:Изд-воМГТУим.Н.Э.Баумана,2011.-182с.:ил.-(Библиотека"Наноинженерия":в17кн.,ISBN978-5-7038-3509-8;кн.8).-Библиогр.:с.178-179.-ISBN978-5-7038-3499-2.3. СтаростинВ.В.Материалыиметодынанотехнологий:учеб.пособие/СтаростинВ.В.;общ.ред.ПатрикеевЛ.Н.-2-еизд.-М.:БИНОМ.Лабораториязнаний,2013.-431с.:ил.-(Нанотехнологии).-Библиогр.:с.424-426.-ISBN978-5-9963-0346-5.Дополнительнаялитература1. Макарчук В.
В., Родионов И. А., Цветков Ю. Б. Методы литографии в наноинженерии :учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб.пособиедлявузов/МакарчукВ.В.,РодионовИ.А.,ЦветковЮ.Б.;ред.ШахновВ.А.-М.:Изд-во МГТУ им.
Н. Э. Баумана, 2011. -175 с. : ил.-(Библиотека "Наноинженерия" : в 17кн.,ISBN978-5-7038-3509-8;кн.9).-Библиогр.:с.171.-ISBN978-5-7038-3500-5.2. Слепцов В.В. Физико-химические основы наноматериалов и нанотехнологий. М.: ООО«Самполиграфист»,2015.368с.3. Введениевнанотехнологию:учебникдлявузов/МарголинВ.И.,ЖабревВ.А.,ЛукьяновГ. Н., Тупик В. А. - СПб. : Лань, 2012. - 457 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальнаялитература).-Библиогр.вконцегл.-ISBN978-5-8114-1318-8.4. Справочник по технологии наночастиц : [монография] : пер.
с англ. / ред. Хосокава М.,Ноги К., Наито М., Йокояма Т. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч.-исслед. центр понанотехнологиям;науч.ред.пер.ЯрославцевА.Б.,МаксимовскийС.Н.-М.:Научныймир,2013.-727с.,[6]л.ил.:ил.-(Фундаментальныеосновынанотехнологий.Справочники).-Библиогр.вконцеразделов,прил.-ISBN978-5-91522-231-0.5.
Афонский А. А., Дьяконов В. П.Электронные измерения в нанотехнологиях имикроэлектронике:[монография]/АфонскийА.А.,ДьяконовВ.П.;ред.ДьяконовВ.П.-М.:ДМК,2012.-687с.-Библиогр.:с.679-686.-ISBN978-5-94074-626-3.6. Дзидзигури Э. Л., Сидорова Е. Н. Процессы получения наночастиц и наноматериалов.Нанотехнологии : учеб. пособие / Дзидзигури Э. Л., Сидорова Е. Н. ; Министерствообразования и науки РФ, Национальный исслед.
технол. ун-т "МИСиС", Кафедрафункциональных наносистем и высокотемпературных материалов. - М. : Издат. ДомМИСиС,2012.-70с.:ил.-Библиогр.:с.69-70.-ISBN978-5-87623-605-0.7. Герасименко Н., Пархоменко Ю. "Кремний - материал наноэлектроники", МирМатериаловиТехнологий,Техносфера,2007-352с.8. КалоусВ.Биофизическаяхимия./КалоусВ.,ПавличекЗ.–М.,1985г.9. Общаяхимия.Биофизическаяхимия.Химиябиогенныхэлементов:Учеб.длявузов/Ю.А.Ершов,В.А.Попков,А.С.Берляндидр.;Под.Ред.Ю.А.Ершова.–2-еизд.,испр.идоп.-М.:Высш.шк.,2000м–560с.:ил.10.
МаршеллЭ.Биофизическаяхимия.–М.:Мир,1981.11. АнализповерхностиметодамиОже-ирентгеновскойфотоэлектроннойспек-троскопии/подред.Д.Бриггса,М.П.Сиха.М.,1987.600с.12. Вудраф,Д.Современныеметодыисследованияповерхности/Д.Вудраф,Т.Делчар;пер.сангл.М.,1989.564с.13. Комаров,Ф.Ф.Неразрушающийанализповерхностейтвердыхтелионнымипучками/Ф.Ф.Комаров,М.А.Кумахов,И.С.Ташлыков.Минск,1987.256с.14. Методыанализанапучкахзаряженныхчастиц/А.А.Ключников[идр.].Киев,1987.152с.15. Методыанализаповерхностей/подред.А.Зандерны.М.,1979.582с.16. Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков / Н. Н. Петров, И. Л.Аброян.Л.,1977.130с.17. Пранявичюс,Л.Модификациясвойствтвердыхтелионнымипучками/Л.Праня-вичюс,Ю.Дудонис.Вильнюс,1980.242с.18. Праттон, М. Введение в физику поверхности / М. Праттон.
Ижевск , 2000. 256 с. Рид, С.Электронно-зондовыймикроанализ/С.Рид.М.,1979.423с.19. Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер. М.,1989.344с.20. Шипатов,Э.Т.Обратноерассеяниебыстрыхионов:теория,эксперимент,прак-тика/Э.Т.Шипатов.Ростовн/Д.,1988.160с.21. Электроннаяиионнаяспектроскопиятвердыхтел/подред.Л.Фирмэнса,Дж.Вэнника,В.Декейсера.М.,1981.467с.22. Электроннаяспектроскопия/подред.И.Б.Боровского;пер.сангл.М.,1971.467с.23. ОураК.,ЛифшицВ.Г.,СаранинА.А.идр.Введениевфизикуповерхности/Подред.В.И.Сергиенко.—М.:Наука,2006.—490с.24. ПентинЮ.А.,ВилковЛ.В.Физическиеметодыисследованиявхимии.—М.:Мир,2006.—683с.25. БрандонД.,КапланУ.Микроструктураматериалов.Методыисследованияиконтроля.—М.:Техносфера,2006.—384с.26.
ГусевА.И.,РемпельА.А.Нанокристаллическиематериалы.–М.:Физматлит,2003.–224с.27. БреховскихЛ.М.,ГончаровВ.В.Введениевмеханикусплошныхсред.-М.:Наука,198228. Пул,Ч.Нанотехнологии/Ч.Пул.-М.:Техносфера,2006.-336с.29. Гусев,А.И.Наноматериалы,наноструктуры,нанотехнологии.М.:Физматлит,2007.416с.30. ХаррисП.Углеродныенанотрубкииродственныеструктуры.Новыематериалы21века:Пер.сангл.М.:Техносфера,2003.-336с.31. ДельмонБ.Кинетикагетерогенныхреакций.1972.Мир.552с.32. А.И.Русанов,Фазовыеравновесияиповерхностныеявления,Наука,Ленинград,1967.33. С.Оно, и С.Кондо, Молекулярная теория поверхностного натяжения в жидкостях, ИЛ,Москва,1963.34.
А.Адамсон,Физическаяхимияповерхностей,Мир,М.,1974.35. М.Джейкок,Дж.Парфит,Химияповерхностиразделафаз,М.,Мир,1984.36. Дж.Андерсон,Структураметаллическихкатализаторов,Мир,М.,1978.37. Я.ДеБур,Динамическийхарактерадсорбции,ИЛ,М.,1962.38. А.А.Лопаткин,Теоретическиеосновыфизическойадсорбции.39. М.М.Дубинин,Адсорбцияипористость,М.197240.
Chu,W.K.Backscatteringspectrometry/W.K.Chu,J.W.Mayer,M.-A.Nicolet.N.Y.,1978.384p.41. Lindhard,J.RangeconceptsandHeavyIonRanges(NotesonAtomicCollisions,II)/J.Lindhard,M.Scharff,H.E.Schiott//Mat.Fys.Medd.Dan.Vid.Selsk.1963.Р.1–42.42. Lüth, H. Solid Surfaces, Interfaces and Thin Films / H.
Lüth. Leipzig, 2001. 559 p. Sigmund, P.Theoryofsputtering.I.Sputteringyieldofamorphousandpolycrystallinetargets//Phys.Rev.1969.Vol.184,№2.P.383–416.43. Surfaceandthinfilmanalysis:principles,instrumentation,application/ed.H.Bubert,H.Jenett.Weinheim,2002.336p.44. OuyangM.,HuangJ.L.,CheungC.L.,LieberC.M.(2001).Atomicallyresolvedsingle-walledcarbonnanotubeintramolecularjunctions.Science291,97–100;45. GrossL., MohnF., MollN., LiljerothP., Meyer G. (2009).
The chemical structure ofamoleculeresolvedbyatomicforcemicroscopy.Science325,1110–1114;46. EatonP., Fernandes J.C., PereiraE., Pintado M.E., Xavier Malcata F. (2008). Atomic forcemicroscopystudyoftheantibacterialeffectsofchitosansonEscherichiacoliandStaphylococcusaureus.Ultramicroscopy108,1128–1134;47. MustataM., RitchieK., McNally H.A. (2010). Neuronal elasticity asmeasured byatomic forcemicroscopy.J.Neurosci.Methods186,35–41;48. Wong K.L., PawinG., Kwon K.Y., LinX., JiaoT., SolankiU., Fawcett R.H., BartelsL., StolbovS.,RahmanT.S.(2007).Amoleculecarrier.Science315,1391–1393..
