ОНЭиНТ_Сидорова_Л4(6) (Лекции по ОНЭиНТ), страница 4
Описание файла
Файл "ОНЭиНТ_Сидорова_Л4(6)" внутри архива находится в папке "Лекции по ОНЭиНТ". PDF-файл из архива "Лекции по ОНЭиНТ", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологии" из 8 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лекции и семинары", в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологий" в общих файлах.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 4 страницы из PDF
Один из мощнейших способов качественной идентификации веществ, допускающий также и количественное определение. Можно сказать, что масс-‐спектрометрия — это «взвешивание» молекул, находящихся в пробе. Блок-‐схема масс-‐спектрометра Масс-‐спектрометрия «НАНОВЗВЕШИВАНИЕ» Наногравиметрия Наногравиметрия (англ. quartz crystal nanobalance сокр., QCN) — инструмент измерения массы, принцип работы которого основан на зависимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) от количества вещества, нанесенного на его поверхность.
Основу кварцевых нановесов составляет кварцевая пластина, вырезанная из монокристалла кварца под определенным углом. Сверху и снизу этой пластины нанесены золотые электроды. При подключении к этим электродам переменного напряжения пластина начинает колебаться за счет явления обратного пьезоэффекта. При определенной частоте переменного напряжения в такой колебательной системе наступает резонанс.
При осаждении вещества на поверхности этого устройства происходит изменение резонансной частоты пластины, на основании которого рассчитывается масса осажденного вещества. Контрольные вопросы 1. Каковы главные преимущества и недостатки СТМ в сравнении с АСМ? 2. Почему сканирование в контактном режиме проводится обычно не очень быстро? 3. Какой режим быстрее: постоянной силы или постоянной высоты? 4. Что определяет разрешение в АСМ, а что в СТМ? Возможно ли достижение атомарного разрешения в АСМ и почему? 5. Возможности сканирующей электронной микроскопии.
6. Особенности ПЭМ и СЭМ. 7. Какое явление лежит в основе метода РФЭС? 8. Электронные пучки какой энергии используются в Оже-‐спектроскопии, каково пространственное разрешение? 9. Суть и особенности ДБЭ и ДМЭ. 10. Виды спектроскопии, отличия. 11. Области применения магнито-‐резонансных методов исследования.
12. Виды и возможности масс-‐спектрометрии. Темы рефератов (на следующее занятие) 13. Зондовые методы нанолитографии. 14. Достижения современной проекционной фотолитографии. 15. Технология наноимпринтной литографии. 16. Механизмы наноперемещений: проблемы и ограничения. .
