ОНЭиНТ_Сидорова_Л3(4,5) (Лекции по ОНЭиНТ), страница 2
Описание файла
Файл "ОНЭиНТ_Сидорова_Л3(4,5)" внутри архива находится в папке "Лекции по ОНЭиНТ". PDF-файл из архива "Лекции по ОНЭиНТ", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологии" из 8 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лекции и семинары", в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологий" в общих файлах.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 2 страницы из PDF
Контрольные вопросы 1. Поверхностное натяжение и краевой угол смачивания: методы измерения и оценки. 2. Преимущества и недостатки метода кольца Дью Нуи. 3. Преимущества и недостатки метода пластины Вильгельми. 4. Измерение малого поверхностного натяжения. 5. Оценка смачиваемости пористых материалов. 6. Оценка смачиваемости поверхности со сложным рельефом.
Темы рефератов (на следующее занятие) 9. Формирование полупроводниковых и металлических нановолокон и спиралей. 10. Автоэмиссионные наноструктуры и приборы на их основе. 11. Микро-‐ и наноэлектромеханические системы: идеология и принципы функционирования. 12. Наноиндентирование: виды, возможности и оборудование. .