Повышение качества оптических поверхностей элементов приборов алмазным шлифованием на сверхточных станках, страница 22

Расчет толщины срезаемого слоя на единичное зерно при плоскомшлифовании торцемНаРис.П.7приведенасхемаплоскогошлифованияторцем.Шлифовальный круг радиусом R вращается с частотой n1 . Круговая подачазаготовки осуществляется со скоростью S prod , обеспечиваемой круговымвращением поворотного стола диаметром Dzag с частотой n2 . Круговая подачазаготовкинаоборотшлифовальногокругасоставляетS prodob  S prod / n1   Dzag n2 / n1 . Глубина резания равна t . Поперечнаяподача круга осуществляется со скоростью S pop . При этом выражениеS prod z   Dzag n2 / n1  n psv также задает величину подачи обрабатываемойдетали, приходящуюся на единичное зерно.Анализируя Рис. П.7 и используя геометрические построения, выводимформулу для расчёта толщины срезаемого слоя azmax .177Рис.

П.7. Схема расчета толщины срезаемого слоя на единичное зерно приплоском шлифовании торцемМаксимальная толщина срезаемого члоя на единичное зерно равна:azmax  R  L3O1 .178Найдем длину отрезка L3O1 :L3O1  S prod z 2  R  Lzag2 2S prod z R  Lzag cos 35O1 .(П.12)Найдем неизвестный угол:35O1  35O2  O15O2 ;S prod z35O2  arccos  Dzag  2 Lzag;22 DD   zag  Lzag   R 2   zag  R  2 2 .O15O2  arccos   Dzag2R  Lzag  2Таким образом:S prod z 2  R  Lzag2 S prodz arccos  Dzag  2 Lzag azmax  R 2S prod z R  Lzag cos Lzag Dzag  LzagDzag  arccos Dzag  2 LzagR R  2 Lzag .(П.13)Упрощенно можно записать:azmax  R  R  Lzag 2 S prod z 2  2S prod z 2Lzag R  R 2(П.14)При этом: Dzag n2  R  Lzag Lkont  R  1   arccos .Rn1 R(П.15)179П.6.

Чертежи специального режущего инструмента для алмазногоРис.П.8. Круг из алмазных таблеток на органической связке, наклеенных на стальную основушлифования оптических поверхностей180Рис. П.9. Алмазный круг по технологией многослойногокомпозиционного электролитического покрытия181П.7. Результаты контроля поверхности алмазоносного слоя специальногорежущего инструмента для алмазного шлифования оптическихповерхностейРис. П.10.

Вид поверхности алмазоносного слоя круга 12А2 45°75х21х20х6х3 АСМ3/2 МАГ 150% (масштаб 500:1)Рис. П.11. Вид поверхности алмазоносного слоя круга 2А2 45°100х21х20х6х3 АСМ3/2 Б1 100% (масштаб 500:1)182Рис. П.12. Вид поверхности алмазоносного слоя круга с технологиеймногослойного композиционного электролитического покрытия(масштаб 500:1)датчик объектива; М-magnification - блок управляющей увеличением растрасканирующей электронной микроскопии; ГИС - газовая инжекционная система,(платина и йод); TLD -РСМА - рентгеноспектральный микроанализ; ETD - датчик Everhart-Thornley Detector; STEM - датчикРис.

П.13. Схема установки ионно-лучевого травления для измерения величины трещиноватого слоя:183П.8. Схема установки ионно-лучевого травления для измерения величинытрещиноватого слоя184П.9. Чертеж специального шлифовального круга для обработкиоптических изотропных материаловРисунок П.14. Чертеж специального шлифовального круга для обработкиоптических изотропных материалов.