Диссертация (Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм), страница 21

был проделаланализ отечественной и зарубежной научно-технической литературы, ипатентов по исследуемому вопросу контроля качества ЗГ как нанесенных надокументы, так и оценке качества ЗГ на отдельных этапах технологическогопроцесса их изготовления. Аспирантом впервые было предложено понятиекачества ЗГ, основанное на определении совокупности параметров фазового1рельефа ЗГ - периода и глубины поверхностного рельефа элементарныхфазовыхдифракционныхрешеток(ДР),приусловиизаданногогеометрического профиля поверхностного рельефа.

При этом автор проявилнестандартноемышление,предложиворигинальныйметодконтролякачества ЗГ путем определения периода и глубины рельефа на основекосвенных измерений интенсивности света в нескольких дифракционныхпорядках, получаемых при освещении ЗГ косопадающим лазернымизлучением. Этот метод в результате позволил разработать функциональнуюи принципиальную оптические схемы оптико-электронного прибора,позволяющего в автоматизированном режиме выполнять контроль качестваЗГ на главных этапах технологического процесса их изготовления – 1) наэтапе получения мастер-матрицы (или рабочих мастер-матриц), 2) на этапеэмбоссирования (горячего тиснения) ЗГ на лавсановую пленку в рулонах, 3)на этапе получения готовой продукции самих ЗГ, выполняя роль ихаттестации и отдела технического контроля.

Так по оценкам АО «НПО«КРИПТЕН»») это позволяет в случае крупных тиражей (1-10 млн.шт.)снизитьна20%количествобракованнойпродукции,повыситьрентабельность и снизить себестоимость производства ЗГ.Представленная диссертационная работа обладает научной новизной, ккоторой следует отнести:1) впервые введено и научно обосновано понятие качества ЗГ каксовокупность двух параметров - глубины и периода фазового рельефа ДР, атакже впервые введен критерий качества ЗГ в виде величины равнойотношению интенсивностей света во 2-ом и в 1-ом дифракционных порядкахдля эталонной ЗГ, который используется для сравнения по типу «большеменьше» с такими же величинами для исследуемых ЗГ как на отдельныхэтапах технологического производства, так и на конечной продукции ЗГ;2) определено понятие случайных искажений параметров «глубина-период»рельефа отражающей фазовой ДР и впервые получены математическиевыражения, описывающие зависимость распределения интенсивности света в2порядках дифракции от параметров формы рельефа отражающих фазовых ДРс учетом параметров и характеристик случайного поля искажений рельефа;3) разработан метод оперативного контроля качества ЗГ на основе косвенныхизмеренийинтенсивностисветавнесколькихпорядкахдифракцииотражающей фазовой ДР, позволяющий определить период и глубинуфазового рельефа ДР с требуемой погрешностью измерений;4) научно обоснована методика объективного контроля качества ЗГ, котораябазируется как на прямых измерениях параметров «глубина-период» дляэталонной фазовой ДР, так и на косвенных измерениях параметров «глубинапериод» исследуемой фазовой ДР, предназначенная для контроля качестваЗГ на всех стадиях технологического процесса их изготовления, включаяконтроль качества мастер-матриц ЗГ, промежуточных образцов ЗГ,полученных при эмбоссировании, и конечных серийных образцов ЗГ;5) разработана оригинальная схема оптико-электронного прибора дляавтоматизированного оперативного контроля качества ЗГ, защищеннаяпатентом РФ на полезную модель.Практическая ценность диссертационной работы заключается в том,что разработанные метод и методика контроля качества ЗГ, а такжеоригинальнаяфункциональнаясхемаоптико-электронногоприбора,предназначенного для реализации этой методики, позволяют обеспечитьоперативность контроля качества ЗГ и снижение потерь от брака при ихпроизводстве.Основные положения диссертации докладывались и обсуждались нашести научно-технических всероссийских и международных конференциях исимпозиумах, а также опубликованы в 14 статьях в ведущих журналах, в томчисле в 5 научных статьях, опубликованных в журналах, входящих вПеречень ВАК РФ.

На разработанную в работе схему оптико-электронногоприбора оперативного контроля качества ЗГ получен патент РФ.Аспирант показал себя грамотным научным сотрудником и способныминженером,применяющимвработе3наддиссертационнойработойсовременные методы теории оптико-электронных систем, фурье-оптики,скалярной теории дифракции и математического анализа. Он также свободнопользуетсянеобходимымисредствамивычислительнойтехникииприкладными программами.

Аспирантом были самостоятельно рассчитанаоптическая схема и создан макет оптико-электронного прибора контролякачества ЗГ, на котором были проведены экспериментальные исследованиябольшого количества исследуемых ЗГ разного типа дизайна, позволившиеподтвердить правильность основных теоретических положений диссертациии их согласованность с полученными экспериментальными результатами.Это позволило аспиранту Колючкину В.В.

получить корректные выводы подиссертации.Во время обучения в аспирантуре МГТУ им. Н.Э. Баумана КолючкинВ.В. проводил лекционные занятия и лабораторные работы по курсу«Прикладная голография», читаемому на кафедре «Лазерные и оптикоэлектронные системы» (РЛ-2), а также консультировал студентов покурсовым и дипломным проектам.В настоящее время аспирант работает в должности инженераразработчика в лаборатории «Оптико-голографические системы» НИИРадиоэлектроники и лазерной техники МГТУ им.

Н.Э. Баумана и занимаетсяразработкой оптико-электронных средств, устройств и приборов дляконтроляподлинностииконтролякачестваЗГснано-микроструктурированными элементами и с высокой степенью защищенностиот подделки.Диссертация Колючкина В.В. является самостоятельной, законченнойнаучно-квалификационной работой, выполненной на высоком теоретическомуровне, в которой изложены научно обоснованные технические решения посозданию метода, методик контроля качества голограмм и проектированияспециализированных оптико-электронных приборов контроля качества ЗГ.Диссертация соответствует требованиям ВАК РФ, предъявляемым ккандидатским диссертациям.4.