20090525-0050 чернь3 (Ещё один готовый курсовик), страница 3
Описание файла
Файл "20090525-0050 чернь3" внутри архива находится в папке "Ещё один готовый курсовик". Документ из архива "Ещё один готовый курсовик", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "управление качеством" из 10 семестр (2 семестр магистратуры), которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "курсовые/домашние работы", в предмете "управление качеством электронных средств" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "20090525-0050 чернь3"
Текст 3 страницы из документа "20090525-0050 чернь3"
для устройства ввода-вывода:
| для J1: |
| для J2: |
|
|
|
| ||
|
|
|
для арифметического устройства:
| для J1: |
| для J2: |
|
|
|
| ||
|
|
|
для устройства управления:
| для J1: |
| для J2: |
|
|
|
| ||
|
|
|
-
Уточненное количество микросборок определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
| для J1: |
| для J2: |
|
для арифметического устройства:
| для J1: |
| для J2: |
|
для устройства управления:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Количество микросборок всех типов во всех субблоках записываем в табличной форме:
для J1:
| j | Nс.с.i.j | ||||||||||
| 1 | 12 | 12 | 12 | ||||||||
| 2 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | ||
| 3 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | |||||
для J2:
| j | Nс.с.i.j | |||||||||||
| 1 | 7 | 7 | 7 | |||||||||
| 2 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | |||
| 3 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | ||||||
-
Определение параметров надёжности аппаратуры.
-
Интенсивность отказов микросхем.
-
В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику: 
-
Интенсивность отказов аппаратуры.
-
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:
-
где: λс.ш – интенсивность отказов схем широкого применения (
);
λс.с – интенсивность отказов микросборок (
);
λ1К.П – интенсивность отказов паяного контакта (
);
ММ.С – количество задействованных выводов микросхемы (для J1и J2 –8).
для устройства ввода-вывода:
| для J1: |
| для J2: |
|
для арифметического устройства:
| для J1: |
| для J2: |
|
для устройства управления:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления определим по формуле:
, где: К1 = 3.
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода определим по формуле:
, где: К1 = 3.
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве определим по формуле:
, где: К1 = 3.
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определим по формуле:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определим по формуле:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определим по формуле:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Определим количество внешних выводов аппаратуры:
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции определим по формуле:
где: λ1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма (
).
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определим по формуле:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определим по формуле:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур определим по формуле:
-
где: Кэ – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определим по формуле:
где: КМ – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (КМ = 1,0);
КВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (КВЛ = 1,0);
КД – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (КД = 1,14).
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Среднее время безотказной работы аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.
-
Число профилактических осмотров.
-
Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:
-
-
где: ТПР – время профилактического осмотра.
Это уравнение решаем графоаналитически (Приложение 2), путем нахождения общей точки кривых Т1 и Т2 – Т3, описываемых формулами:
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Время назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определим по формуле:
, где ТПР = 2.
для разъёмной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для книжной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
для кассетной конструкции:
| для J1: |
| для J2: |
|
-
Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
