Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии, страница 4
Описание файла
Документ из архива "Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "методы диагностики в нанотехнологиях" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "книги и методические указания", в предмете "методы диагностики в нанотехнологиях" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии"
Текст 4 страницы из документа "Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии"
Полученный профиль поверхности с оценкой размеров микро-и макронеровностей исследованных образцов.
Выводы о свойствах поверхности исследованных образцов.
Вопросы для самоконтроля и подготовки к защите лабораторной работы.
1. Нарисовать график зависимости от расстояния силы взаимодействия зонда с поверхностью и пояснить происхождение двух областей взаимодействия.
2. Пояснить сущность бесконтактного, полуконтактного и контактного режимов работы АСМ, используя график зависимости от расстояния силы взаимодействия зонда с поверхностью.
3. Измеряемые параметры в статическом и динамических режимах работы АСМ.
4. Устройство АСМ, схема зонда с кантилевером и оптической системой измерения деформации кантилевера.
5. В чём заключается операция подвода зонда к поверхности образца?
6. Причины возникновения систематических погрешностей измерения методом АСМ в воздушной среде
7. Способы количественного определения погрешнотей измерения методом АСМ.
8. В чём состоит подготовка образца к измерению с использованием комплекса «NTEGRA Spectra»?
9. Назовите состав основных блоков комплекса «NTEGRA Spectra»..
Список литературы.
1.Описание и руководство по эксплуатации комплекса «NTEGRASpectra»,Россия, 2007.- 71 с
2. Описание и руководство по эксплуатации нанотехнологического комплекса «НаноФаб 100», Россия, 2007.- 79 с.
3. Миронов В.Л.. Основы сканирующей зондовой микроскопии. - М.: Техносфера, 2004. - 282 с.
4. Нанотехнология и микромеханика: Учебное пособие / Ю.А.Иванов, К.В.Малышев, В.А.Шалаев и др.- Ч.1. - М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э.Баумана, 2003.- 58 с.
5. Нанотехнология радиоэлектронных и оптоэлектронных средств, под ред. чл.-кор. РАН О.С.Нарайкина, электронный учебник, 2007.- 168 с.
21