Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Основы наноэлектроники и нанотехнологииВариант 20. Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа объектовВариант 20. Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа объектов
5,0051
2022-05-292022-05-29СтудИзба
Реферат: Вариант 20. Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа объектов вариант 20
Описание
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) является весьма перспективным инструментом изучения наночастиц и материалов на их основе. В СТМ математический аппарат обработки изображений используется для поиска и определения размеров наночастиц или локальных особенностей поверхности подложки [1]. Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) позволяет неразрушающим способом в диапазоне 1-100 нм получать прямую информацию о нанорельефе поверхности ультрадисперсных частиц (УДЧ) кластерных материалов[2].
Характеристики реферата
Тип
Учебное заведение
МГТУ им. Н.Э.БауманаСеместр
Вариант
Программы
Теги
Просмотров
15
Качество
Идеальное компьютерное
Размер
278,23 Kb
Список файлов
дз.docx
![Картинка-подпись](https://s.studizba.com/z.php?f=/uploads/fotos/podpt_101308_49962.jpg&w=1632&h=400&t=1")
Привет всем! Я автор на Студизбе. Я надеюсь что, не только дам Вам файлы с ответом но и знание. Не только копировать, а нужно понимать! Вставьте 5 звезд и позитивные комментарии сразу дам Вам подарок
The Best Choice
29 мая 2022 в 14:11
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
