Ответы к экзамену: Ответы на вопросы к экзамену по ММиНЭ

1. Классификация наноструктур, стратегии их создания. Примеры современных достижений микро- и наноэлектроники.
2. Законы Мура. Современные проблемы и тенденции развития микро- и наноэлектроники.
3. Физические методы получения тонких пленок: преимущества и недостатки, примеры создания микро- и наноструктур
4. Химические методы получения тонких пленок: преимущества и недостатки, примеры создания микро- и наноструктур
5. Сегнетоэлектрики для интегрированных устройств микроэлектроники: фазовые переходы, примеры веществ и их структура
6. ПЛЕНКИ ЦТС: МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ И СПОСОБЫ НАНЕСЕНИЯ, ПРИНЦИПЫ ФОРМИРОВАНИЯ ОПТИМАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ
3. Многослойные композиции на основе пленок цирконата-титаната свинца
7. Пленки ЦТС и ТБС: влияние отжига на стр-ру и ф. состав, проблемы стабильности мет. системы, пленки на диэл. подложках. Мех.-мы кр.-ции
8. Сегнетоэлектрики в каналах пористых мембран: методы формирования, особенности кристаллической структуры по сравнению с пленками, перспективы применения
9. Эпитаксиальные пленки для устройств СВЧ-электроники: структура границ раздела, влияние толщины на доменную структуру, применение
11. Фотонные кристаллы, технология их получения: темплатный и безтемплатный синтез, селективное травление
12. Углеродные наноматериалы: нанотрубки, нанонити, графен, фуллерены, метананотрубки. Способы визуализации структуры, возможные применения
15. Наноструктуры в каналах пористых матриц. Фотонные кристаллы.
16. Нанотранзисторные структуры на традиционных и новых материалах
17. Спинтроника и молетроника: основные принципы и примеры веществ
19. Визуализация наноструктур с помощью лоренцовой микроскопии и электронной голографии
20. Визуализация наноструктур с помощью электронной микроскопии с коррекцией аберраций
21. Применение метода обратнорассеянных электронов (ДОЭ) для визуализации структуры микро- и наносистем
22. Получение 3D-изображений наносистем с помощью электронной томографии.
​23. Методы исследования химического состава микро и наносистем: спектроскопия характеристических потерь энергии электронов, энерго-дисперсионнный анализ
24. Методы ПЭМ для исследования микро- и наносистем: ВРЭМ, Фурье-анализ
25. Методы ПРЭМ для исследования микро- и наносистем: изображение с z-контрастом и методы их моделирования
27. Современные методы пробоподготовки для исследования микро- и наносистем: ФИП, ионное травление, криомикроскопия
28. ЗУПВ (DRAM): принципы работы, технология, сравнительные характеристики, перспективы развития.
29. Наноструктуры на основе ферромагнитных пленок для устройств магниторезистивной памяти
30.Энергонезависимые перепрограммируемые СЗУ (FRAM)
​