Вариант 2 (564418), страница 2

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 2)

Р_VT

Р_VD

Р_L

Р_T

Р_BQ

Р_MC

Р_перек

Р_тумб

Р_{кноп. пит}

Модель надежности:

Р_{прибора} = Р_R1* Р_R2*(Р_С1обр*Р_С1к.з.)*(Р_С2обр.*Р_С2к.з)*(Р_VTобр.*Р_VTк.з)*(Р_VDобр.*Р_VDк.з) (Р_Lобр.*Р_Lк.з)*

*(Р_Tобр.*Р_Tк.з)*(Р_BQобр.*Р_BQк.з)*(Р_MCoбр.*Р_MCк.з)*(Р_{перерк.обр.}*Р_{перек.к.з})*(Р_{тумб.обр.}*Р_{тумб.к.з})*(Р_{кнопк.пит.обр.}* *Р_{кноп. пит.к.з}) = е^{-(n*∑эt)}

Основными количественными характеристиками надежности являются вероятность безотказной работы РЭС Р(t) = е^-(эt) и среднее время наработки на отказ Т=1/э, где t-время непрерывной работы изделия; э - эксплутационное значение интенсивности отказов РЭС.

Для последовательной логической схемы надежности:

_n

э =э_i

ⁱ⁼¹

где э_i-эксплуатационное значение интенсивности отказов i-го элемента, учитывающее внешние воздействия, влияние тепловых и электрических нагрузок элементов; n-число элементов.

11.2.1. Определяем интенсивность отказов радиоэлементов

лабораторного макета автогенераторов

Интенсивность отказов резистора МЛТ - _R1:

_R1 = _0R aК_RК_мК_Э

_0R = 0,00510 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказов резистора типа МЛТ при нормальных условиях;

a = 0,5 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС

К_R = 0,7 – коэффициент, учитывающий номинал резистора

К_э = 1 – коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_м = 1,5 - учитывает номинальную мощность рассеяния

Интенсивность отказов переменного резистора _R2 :

_R2 = _0R aК_RК_ннК_Э

_0R = 0,01510 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказов резистора при нормальных условиях;

a = 0,5 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС

К_R = 1,4 – коэффициент, учитывающий номинал резистора

К_э = 1 – коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_нн = 1 - учитывает нагрузку по напряжению (

Интенсивность отказов конденсаторов К50-16 - _С1 :

_C1 = _0C aК_CК_Э

_0R = 0,02510 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказов конденсатора К50-16 при нормальных условиях;

a = 0,6 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС;

К_С = 2 – коэффициент, учитывающий номинал резистора

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов конденсаторов КМ - 5 - _С2 :

_C2 = _0C aК_CК_Э

_0R = 0,00610 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказов конденсатора КМ - 5 при нормальных условиях;

a = 0,6 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС;

К_С = 2 – коэффициент, учитывающий номинал резистора;

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов транзистора КТ325ВМ - _ТР :

_ТР = _0ТР aК_фК_днК_ннК_э

_0ТР = 0,1510 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказов кремниевого транзистора при нормальных условиях;

a = 0,5 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС

К_ф = 0,7 - учитывает функциональное назначение прибора

К_дн = 0,5 - зависит от величины максимально допустимой по ТУ нагрузке мощности рассеяния

К_нн = 0,5 – коэффициент нагрузки транзистора;

К_э = 1 – коэффициент учета условий эксплуатации

Интенсивность отказов диодного моста КЦ-402А - _д:

_д = _0ТР aК_фК_днК_ннК_э

_0д = 0,3510 ^–6 ч^–1 – интенсивность отказа диодного моста

a = 0,5 – коэффициент режима работы для температуры 40^оС;

К_ф = 1,5 - учитывает функциональное назначение прибора

К_дн = 0,8 - зависит от величины максимально допустимой по ТУ нагрузке мощности рассеяния

(таблица №5.8 []);

К_нн = 0,75 – коэффициент нагрузки транзистора

К_э = 1 – коэффициент учета условий эксплуатации

Интенсивность отказов индуктивности _L:

_L = _0L aК_в

_0L = 0,0210 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа катушки

а = 0,2 - коэффициент режима работы для катушки

К_в = 2 – коэффициент вибрации

Интенсивность отказов трансформатора _Тр:

_Тр = _0Тр (К_т/К_то)К_э

_0Тр = 0,8510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа трансформатора

К_т = 1 – учитывает температуру окружающей среды

К_то = 11 – коэффициент К_т при температуре 50 °С

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов кварца _ВQ :

_ВQ = _ВQ К_э

_0BQ = 0,0510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа кварца

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов микросхемы КР142ЕН5 - _ис :

_ис = _0ис К_эК_с

_0ис = 0,510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа микросхемы

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_с = 1– коэффициент учета сложности микросхемы;

Интенсивность отказов разъемов - _раз :

_раз = _0раз а К_эК_сК_к

_0раз = 0,005610 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа разъема

а = 0,4 - коэффициент режима работы для разъема

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_с = 0,371– коэффициент учета сочленений - расчленений;

К_к = 1,361 – коэффициент задействованных контактов.

Интенсивность отказов переключателей - _перек:

_перек = _0перек аК_эК_к

_0перек = 0,03510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа переключателя

а = 0,4 - коэффициент режима работы для переключателя

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_к = 1 – коэффициент задействованных контактов.

Интенсивность отказов тумблера - _тумб:

_тумб = _0тумб аК_эК_к

_0перек = 0,03510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа тумблера

а = 0,4 - коэффициент режима работы для переключателя

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_к = 0,5 – коэффициент задействованных контактов.

Интенсивность отказов предохранителя - _предох:

_предох = _{0предох} К_эК_т

_0редох = 0,0810 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа предохранителя

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

К_т = 1 – коэффициент учитывающий окружающую температуру.

Интенсивность отказов индикатора - _индик:

_индик = _0индикаК_э

_0идик = 0,0510 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа индикатора

а = 1 - коэффициент режима работы для индикатора

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов измерительного прибора - _измер:

_измер = _0измераК_э

_0идик = 0,1010 ^–6 ч^–1 - интенсивность отказа измерительного прибора

а = 1 - коэффициент режима работы для измерительного прибора

К_э = 1– коэффициент учета условий эксплуатации (лаборатория);

Интенсивность отказов паянных соединений - _пс:

_пс = _0псn

_0пс= 110^–9 ч^–1 - интенсивность отказа паянного соединения

n – количество паянных соединений

Результаты расчета интенсивности отказов элементов схемы сведены в таблицу 11.2.1.1.

Таблица 11.2.1.1

Наименование элемента	Режим работы элемента, (а)	Интенсивность отказов одного элемента, ч–1	Количество элементов, шт	Интенсивность отказов элемента умноженное на количество, ч–1
Резистор МЛТ -0,125	0,5	2,62510–9	17	4,46210–8
Переменный резистор	0,5	1,27510–8	1	1,27510–8
Конденсатор К50-16	0,6	310–8	6	1,810–7
Конденсатор КМ-5	0,6	7,210–9	30	2,1610–7
Транзистор КТ325ВМ	0,5	1,31210–8	5	6,52610–8
Диодный мост КЦ-402А	0,5	1,57510–7	1	1,57510–7
Катушка на 10 мкГн	0,2	810–9	2	1,610–8
Трансформатор		7,27210–8	1	7,27210–8
Кварц 8 МГц		0,0510–6	1	0,0510–6
Микросхема КР142ЕН5		0,510–6	1	0,510–6
Разъем		1,13110–9	6	6,78610–9
Переключатель	0,4	1,410–8	4	5,610–8
Тумблер	0,4	710–9	1	710–9
Предохранитель	0,4	0,0810–6	1	0,0810–6
Индикатор		0,0510–6	1	0,0510–6
Измерительный прибор		0,1010–9	1	0,1010–9
Паянные соединения		110–9	179	17910–9
Итого:				1,74310–6

Расчет _приб производится по формуле:

_приб = ∑_{i эл}

Рассчитаем среднее время наработки на отказ:

Т = 1/_приб

Т = 1/1,74310^–6 = 5,73710⁵ ч

Вероятность безотказной работы:

Р(t) = е^{(-приб t)}

Р(t) = е^{(-1,74310-6*5000)} = 0.991

Таким образом, среднее время наработки на отказ удовлетворяет значению, заданному в ТЗ (Т_ТЗ = 2000 ч). Вероятность безотказной работы Р = 0.991, что говорит о высокой надежности разрабатываемого устройства.

Характеристики

Список файлов курсовой работы