Автореферат (1104844), страница 4
Текст из файла (страница 4)
эффект отраженияот подстилающей поверхности, который определяет вклад в спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии электронов, «родившихся» в направлении вглубь мишени,отразившихся и вылетевших из мишени в заданном направлении.18Литература1. Hofmann S. Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science. — Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. — Vol. 49 of Springer Series in Surface Sciences. —DOI: 10.1007/978-3-642-27381-0.2. Tougaard S., Kraaer J.
Inelastic-electron-scattering cross sections for Si, Cu, Ag, Au, Ti, Fe, andPd // Physical Review B. — 1991. — jan. — Vol. 43, no. 2. — DOI: 10.1103/PhysRevB.43.1651.3. Werner W. Analysis of reflection electron energy loss spectra (REELS) for determination of thedielectric function of solids: Fe, Co, Ni // Surface Science. — 2007.
— Vol. 601, no. 10. —DOI: 10.1016/j.susc.2007.03.001.4. Afanas’ev V., Efremenko D., Lubenchenko A. Direct numerical reconstruction of inelastic crosssections from REELS and ISS spectra // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron andNeutron Techniques. — 2011. — apr. — Vol.
5, no. 2. — DOI: 10.1134/S1027451011040033.5. Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. — Москва: Наука, 1980.— С. 288.6. Tougaard S. Energy loss in XPS: Fundamental processes and applications for quantification, nondestructive depth profiling and 3D imaging // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. — 2010. — may. — Vol. 178-179. — DOI: 10.1016/j.elspec.2009.08.005.7. Oswald R., Kasper E., Gaukler K. A multiple scattering theory of elastic electron backscatteringfrom amorphous surfaces // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena.
— 1993.— Vol. 61, no. 3-4. — DOI: 10.1016/0368-2048(93)80019-I.8. Liu J., Shi X., Zhang Y. A globally optimal approach for surveillance video cropping // ProcediaComputer Science. — Vol. 1. — 2010. — pp. 2569–2577.9. Budak V., Klyuykov D., Korkin S. Convergence acceleration of radiative transfer equation solutionat strongly anisotropic scattering // Light Scattering Reviews 5.
— Springer Berlin Heidelberg,2006. — pp. 147–203.10. Doicu a., Trautmann T. Discrete-ordinate method with matrix exponential for a pseudo-sphericalatmosphere: Scalar case // Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer. — 2009.— Vol. 110, no. 1-2. — DOI: 10.1016/j.jqsrt.2008.09.014.1911. Jablonski a., Zemek J.
Angle-resolved elastic-peak electron spectroscopy: Solid-state effects //Surface Science. — 2006. — Vol. 600, no. 19. — DOI: 10.1016/j.susc.2006.07.011.12. Афанасьев В.П., Капля П.С., Костановский И.А. Определение толщины слоя золота накремнии на основе спектроскопии отраженных электронов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. —2013.
—Т. 2013, № 2. —DOI: 10.7868/S0207352812080045.13. Werner W. Website. —URL: http://eapclu.iap.tuwien.ac.at/{~}werner/data{_}rpn{_}adf.html.14. Tougaard S., Chorkendorff I. Differential inelastic electron scattering cross sections from experimental reflection electron-energy-loss spectra: Application to background removal in electronspectroscopy // Physical Review B. — 1987. — Vol.
35, no. 13. — DOI: 10.1103/PhysRevB.35.6570.15. Handbook of X Ray Photoelectron Spectroscopy / J. Moulder, W. Stickle, P. Sobol, K. Bomben.— Physical Electronics.16. Влияние процессов упругого рассеяния на спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии слоисто-неоднородных мишеней / В. П. Афанасьев, П. С. Капля, Д. А. Иванов,А. В. Лубенченко // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.
— 2014. — Т. 2014, № 4. — DOI: 10.7868/S0207352814040039.17. Фотоэлектронная эмиссия для слоев конечной толщины / В.П. Афанасьев, Д.С. Ефременко,Д.А. Иванов и др. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013. — Т. 2013, № 4. — DOI: 10.7868/S0207352813040033.Список основных публикаций по теме диссертации1. Афанасьев В.П., Капля П.С. Последовательный расчет потерь энергии электронов придвижении в твердом теле // Вестник МЭИ.
— 2011. — Т. 4. — С. 90-96.2. Афанасьев В.П., Ефременко Д.С., Иванов Д.А., Капля П.С. и д.р. Фотоэлектронная эмиссия для слоев конечной толщины // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013. — Т. 2013, № 4. — С. 93-98.3. Афанасьев В.П., Иванов Д.А., Капля П.С., Лубенченко А.В. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Точное решение задачи с внутренними источниками // Поверхность.Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013.
– Т. 2013, № 8. —С. 57-62.4. Афанасьев В.П., Капля П.С., Костановский И.А. Определение толщины слоя золота накремнии на основе спектроскопии отраженных электронов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2013. – Т. 2013, № 2. — С.
30-36.205. Afanas’ev V.P., Golovina O.Yu., . Gryazev A.S, Kaplya P.S. Differential Inverse Inelastic MeanFree Pass (DIIMFP) and Differential Surface Excitation Probability (DSEP) Extraction fromElectron Energy Loss Spectra (EELS) // 2014 Tenth International Vacuum Electron SourcesConference (IVESC). — 2014. — no. 2. — Pp. 1-2.6. Afanas’ev V.P., Kaplya P.S., Lubenchenko A.V., Lubenchenko O.I. Modern methods of transfertheory used for solution of signal identification problems of XPS // Vacuum. — 2014. — Vol.105. — Pp.
96-101.7. Афанасьев В.П., Ефременко Д.С., Иванов Д.А., Капля П.С. и д.р. Влияние процессов многократного упругого рассеяния на угловые распределения рентгеновских фотоэлектронов// Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2014. —Т. 2014, № 1. — С. 76-80.8. Афанасьев В.П., Капля П.С., Иванов Д.А., Лубенченко А.В. Влияние процессов упругогорассеяния на спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии слоисто неоднородных мишеней // Поверхность.
Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2014. — Т. 2014. № 4. — С. 83-86.9. Афанасьев В.П., Капля П.С., Лубенченко А.В., Иванов Д.А. Влияние процесса многократного упругого рассеяния на сигнал рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в широком интервале потерь энергии / // Известия Российской Академии Наук. Серия Физическая. — 2014. — Т.
78, № 6. — С. 714-717.10. Afanas’ev V.P., Kaplya P.S., Gryazev A.S. Angle-resolved photoelectron spectra of layers offinite thickness // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques.— 2015. — Vol. 9, no. 3. — Pp. 590-598.11. Afanas’ev V.P., Golovina O.Yu., Gryazev A.S., Kaplya P.S. et al. Photoelectron spectra offinite-thickness layers // Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology andMicroelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. — 2015.
— Vol. 33,no. 3 — P. 03D101.12. Афанасьев В.П., Головина О.Ю., Капля П.С. Количественная интерпретация энергетических спектров рентгеновской фотоэмиссии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — Т. 2015, № 4. — С. 19-23.13. Афанасьев, В.П. Капля, П.С. Теория формирования энергетических спектров отраженных заряженных частиц // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронныеисследования.
— 2015. — Т. 2015, № 7. — С. 66-71.14. В.П. Афанасьев, П.С. Капля, О.Ю. Головина и др. Расшифровка спектров РФЭС с последовательным учeтом влияния процессов многократного упругого и неупругого рассеяния// Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2015. —Т. 2015, № 1. — С. 68-73.2115. В.П. Афанасьев, П.С.
Капля, О.Ю. Головина и др. Расчет рентгеновских спектров фотоэлектронов в широком интервале потерь энергии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2015. — Т. 2015, № 9. — С. 9-14.16. Afanas’ev V. P., Gryazev A. S., Kaplya P. S., Andreyeva Y.
O. Intrinsic Excitation Effect for theAl and Mg Samples XPS Analysis // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron andNeutron Techniques. — 2016. — Vol. 10, no. 1. — Pp. 113-117.17. Афанасьев В.П., Грязев А.С., Капля П.С., Андреева Ю.О., Головина О.Ю. Спектры характеристических потерь энергии ниобия, дифференциальные сечения неупругих потерьэнергии и рентгеновские фотоэлектронные спектры с угловым разрешением // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.
— 2016. Т. 2016, №1— С.73-79.18. Афанасьев В.П., Капля П.С., Лисицына Е.Д. Малоугловое приближение и модельОсвальда–Каспера–Гауклера в задачах отражения электронов от твердых тел // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2016. Т. 2016, №3— С.66-71.22.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
