Диссертация (1103230), страница 21
Текст из файла (страница 21)
Дополнительно для наглядности на рисунках 2 и 3 показана огибающаяпадающего сигнала, уменьшенная по оси U в несколько десятков раз.100а)б)Рисунок 4.4 — Численно рассчитанные огибающие отраженного сигнала: для падающего импульса c трапецеидальной огибающей (а) и с супергауссовой огибающей (б) от двухслойногофильтра (1 – без учета потерь; 2 – с учетом потерь; 3 – огибающая падающего сигнала)Как и ожидалось, для структуры без потерь отраженный сигнал состоит из серии уединенных импульсов. Четко заметно наличие четырех импульсов в отраженном сигнале, в отличие от двух импульсов в случае однослойной структуры [17, 18, 22, 25].
Четыре импульса вотраженном сигнале, как видно на рисунке 4.4, соответствуют четырем точкам максимумавторой производной огибающей падающего импульса.Также можно заметить, что при учете потерь в структуре появляется дополнительный отраженный сигнал, как в области постоянной амплитуды, так и в области линейногонарастания фронтов. В этом случае можно только приближенно считать, что огибающаяотраженного сигнала является второй производной от огибающей падающего. Численноемоделирование показывает, что при отражении электромагнитного импульса от фильтра смаксимально плоской АЧХ с потерями всегда существует момент времени, когда амплитудаотраженного сигнала стремится к нулю.
Из рисунка 4.4 видно, что процесс нестационарного отражения от трехслойного фильтра с максимально плоской АЧХ существенно изменяетсвой характер относительно однослойной системы [25].4.2Экспериментальное исследование явления нестационарногоотражения импульсов от многослойных интерференционныхфильтровДля экспериментальной проверки описанного явления использовался полосовойфильтр, состоящий из двух волновых пластинок. В качестве материала для изготовления101пластинок был выбран фторопласт. Фторопласт имеет малые потери в микроволновом диапазоне частот [106, 108].
Пластинки были установлены на расстоянии четверть длины волныдруг от друга в прямоугольном волноводе. Волновод имел прямоугольное сечение 23 х 10 мм2 .Фильтр был настроен на частоту 8,4 ГГц и имел следующие геометрические размеры: толщина фторопластовых пластинок − 30,0 мм, толщина воздушного зазора между пластинками —14,5 мм. Диэлектрическая проницаемость фторопласта для данной частоты была предварительно измерена согласно методике, описанной в работе в пункте 2.3.2 главы 2, и составила1 = 2,05 − 0,015.Измерительный стенд состоял из векторного анализатора цепей Rohde&SchwarzZVB-20, к которому коаксиальным кабелем через КВП подключался отрезок прямоугольного волновода (рисунок 4.5). Многослойный фильтр устанавливался посередине волновода,чтобы максимально снизить влияние щелевых волн на измеряемый коэффициент отражения.С противоположной стороны от КВП волновод нагружался на согласованную волноводнуюнагрузку.
В ходе эксперимента измерялся комплексный коэффициент отражения от структуры. Для получения огибающей отраженного сигнала использовалось обратное преобразование Фурье. Данный процесс подробно описан в пункте 2.3.4 главы 2.Рисунок 4.5 — Структура экспериментальной установкиНа 4.6 представлен результат теоретического моделирования и экспериментально измеренные огибающие импульса, отраженного от исследуемой структуры. Как видно, результаты теоретического расчета хорошо согласуются с экспериментальными данными. Экспериментальные результаты показали, что в процессе нестационарного отражения электромагнитного импульса от трехслойного фильтра с максимально плоской АЧХ формируютсячетыре коротких импульса.
Положения импульсов совпадают с максимумами производнойогибающей падающего сигнала.102а)б)Рисунок 4.6 — Огибающая отраженного сигнала для падающего импульса c трапецеидальнойогибающей (а) и с супергауссовой огибающей (б) от трехслойного фильтра (1– огибающаяпадающего сигнала; 2 – эксперимент; 3 – теория)Сигнал, сформированный в процессе нестационарного отражения от рассмотреннойструктуры, принципиально отличается от сигнала, отраженного от однослойного фильтра.Как и в случае полуволнового фильтра, потери в слоях структуры оказывают существенное влияние на процесс нестационарного отражения.
Также видно, что существует моментвремени, когда амплитуда отраженного сигнала стремится к нулю.4.3Выводы к четвертой главеКомплекс проведенных исследований показал наличие более сложного процесса нестационарного отражения в многослойных структурах неотражающего класса с максимальноплоской АЧХ по сравнению с однослойными структурами. При малых потерях в слоях структуры огибающая отраженного сигнала может быть приближенно описана -производной отогибающей падающего сигнала.Было обнаружено, что определяющим фактором, влияющим на характер процессанестационарного отражения короткого электромагнитного импульса от многослойной структуры, является функциональная зависимость коэффициента отражения многослойной структуры от частоты в окрестности несущей частоты падающего импульса.
Заметим, что разныемногослойные структуры могут иметь одинаковые коэффициенты отражения в некотороминтервале частот. В этом случае короткие электромагнитные импульсы, отраженные от разных структур, будут совпадать с высокой точностью.Установлено, что потери в многослойных интерференционных фильтрах с максимально плоской АЧХ существенно влияют на процесс нестационарного отражения.
Теоретиче103ски было продемонстрировано, что при отражении амплитудно-модулированного сигнала отфильтров с максимально плоской АЧХ всегда существует момент времени, когда амплитудаотраженного сигнала стремится к нулю.104ЗаключениеВ диссертационной работе проведены теоретические и экспериментальные исследования явления нестационарного отражения электромагнитных импульсов малой длительностиот многослойных интерференционных структур. Основные результаты заключаются в следующем.1.
Создан экспериментальный стенд, и разработана методика обработки сигналов, позволяющие проводить исследования явления нестационарного отражения коротких исверхкоротких электромагнитных импульсов от многослойных интерференционныхструктур в СВЧ-диапазоне.2. Впервые были получены результаты экспериментального наблюдения явления нестационарного отражения амплитудно-модулированного сигнала от многослойной интерференционной структуры в СВЧ-диапазоне.3.
Аналитические, численные и экспериментальные исследования явления нестационарного отражения амплитудно-модулированного сигнала от слоистой структуры спотерями показали, что огибающая отраженного сигнала существенно изменяет свойвид при наличии даже малых потерь в слоях неотражающей многослойной структуры. Причем амплитудный коэффициент отражения линейно зависит от величиныпотерь, в то время как формирование фазовой картины интерферирующих волнпроисходит в этом случае так же, как и в отсутствии потерь.4. Аналитически – методом импедансных характеристик и численно – методом конечных разностей во временной области было показано, что при отражении амплитудномодулированного сигнала от полуволнового слоя с потерями всегда существует момент времени, когда, при ненулевой амплитуде падающего сигнала, амплитуда отраженного сигнала стремится к нулю, а его фаза изменяется на .5.
Решена задача согласования высокоотражающей нагрузки с волноводом за счет сильной волноводной дисперсии. Получены точные и приближенные формулы, позволяющие рассчитать характеристики многослойной интерференционной структуры согласующей высокоотражающую нагрузку с волноводом за счет сильной волноводнойдисперсии. В результате решения задачи показана возможность обеспечения полнойлокализации энергии падающей волны в практически любой нагрузке с помощьюсогласующей структуры, состоящей всего из одного слоя, толщина которого близкак четвертьволновой.6.
Теоретические и экспериментальные исследования показали, что в многослойныхинтерференционных структурах с сильной волноводной дисперсией может происходить существенное усиления амплитуды импульсов, сформированных в процессенестационарного отражения. Наличие волноводной дисперсии в многослойной структуре приводит к увеличению длительности импульсов, которые сформировались впроцессе нестационарного отражения, по сравнению со структурами без дисперсии.1057.
Показано, что определяющим фактором, влияющим на процесс нестационарного отражения, является функциональная зависимость коэффициента отражения МИС вокрестности несущей частоты импульса. Так как разные многослойные структурымогут иметь одинаковые коэффициенты отражения в некотором интервале частот,то короткие электромагнитные импульсы, отраженные от разных структур, будутсовпадать с высокой точностью.8. Теоретические и экспериментальные исследования показали наличие более сложногопроцесса нестационарного отражения в многослойных структурах неотражающегокласса с максимально плоской амплитудно-частотной характеристикой по сравнению с другими многослойными структурами. При малых потерях в слоях структурыогибающая отраженного сигнала может быть приближенно описана -производнойот огибающей падающего сигнала.106БлагодарностиВ первую очередь автор настоящей работы выражает огромную благодарность и признательность своему научному руководителю Козарю Анатолию Викторовичу за мудрое руководство и постоянную помощь и поддержку при выполнении исследований и написаниидиссертации.
За время совместной работы Анатолий Викторович стал для автора эталономученого высочайшего уровня, сочетающего в себе качества колоссальной работоспособностии требовательности к себе и огромное терпение и такт в отношении к своим подопечным, вчастности – к автору.Также автор хотел бы поблагодарить Анатолия Федоровича Королева за многолетнююплодотворную совместную работу и создание приятной и дружественной атмосферы в лаборатории, за мотивацию и поддержку при написании диссертации, выразить благодарностьколлективу лаборатории «Распространения радиоволн и беспроводной связи в урбанизированной среде» за помощь в организации проведения экспериментальных исследований.Отдельно автор благодарит Биленко Игоря Антоновича за неоценимую помощь приизготовлении экспериментальных образцов и моральную поддержку, а также Горохова ПавлаНиколаевича за плодотворное обсуждение экспериментальных и теоретических результатовв процессе выполнения диссертационной работы.Огромная благодарность автором выражается Трофимову Виктору Николаевичу запостоянную помощь и мотивацию при написании диссертации.Автор выражает свою благодарность Колмакову Павлу за консультации при проведении теоретических расчетов, Авельевой Елене за постоянную помощь при верстке статей итекста диссертации.Также автор благодарит своих родных и друзей, чьи поддержка и интерес к его работебыли очень важны для него.107Список сокращений и условных обозначенийАЧХ — Амплитудно-частотная характеристика.МИС — Многослойная интерференционная структура.КРВО — Метод конечных разностей во временной области.СВЧ — Cверхвысокая частота.ЧМ — Частотная модуляция.ФМ — Фазовая модуляция.ТИС — Тонкослойные интерференционные согласователи.КВП — Коаксиально-волноводный переход.КСВн — Коэффициент стоячей волны по напряжению.108Приложение АМногослойные структуры с максимально плоскойамплитудно-частотной характеристикойРассмотрим многослойную структуру, состоящую из четвертьволновых слоев, согласующую две среды c импедансами 0 , .
Приближение слабого контраста позволяет рассматривать каждый из коэффициентов отражения на границе сред внутри МИС как независимыйпараметр. Если мы выберем коэффициенты отражения внутри структуры так, что:− () = (1 + −2 ) = [+] = (2−() ) ,(А.1)то коэффициент отражения всей структуры станет удовлетворять следующему условию: | ()|= 0, при=2для, = 1,2,... − 1.(А.2)Условие рассматривается для коэффициента отражения на центральной частоте, определяемой выражением: = =2⇒=0,4(А.3)0 - длина волны на центральной частоте 0 . Условие (А.1) определяет особенность поведениякоэффициента отражения в области полного согласования.
При выполнении условия (А.1)на коэффициенты отражения на границе между слоями структуры, амплитудно-частотнаяхарактеристика будет иметь максимально гладкую (плоскую) амплитудно-частотную характеристику (АЧХ).Обратим внимание на то, что условие (А.1) эквивалентно тому, что коэффициентыотражения 1 ,2 . . . c точностью до константы являются биномиальными коэффициентами.В общем виде в приближении слабого контраста коэффициенты отражения для рассматриваемой МИС, состоящей из слоев, могут легко быть записаны в терминах биноминального ряда в соответствии с выражением: () = 0 + 1 −2−4+ 2 + · · · + −2 =∑︁ −2 ,(А.4)=0где - нормировочный коэффициент, а - биномиальный коэффициент, задаваемый выражением: =!.!( − )!(А.5)Приравнивая коэффициенты в биномиальном ряде и коэффициенты отражения, получаем:109 = .(А.6)Нормировочный коэффициент может быть определен путем взятия предела в выражениидля коэффициента отражения при частоте, стремящейся к нулю.















