Курсовая работа: Анализ, выбор и разработка б/к эб для систем измерения, контроля, управления и диагностики

СОДЕРЖАНИЕ

ПЕРЕЧЕНЬ СОКРАЩЕНИЙ И ОБОЗНАЧЕНИЙ
ВВЕДЕНИЕ
1 Микроконтроллеры для систем измерения, контроля, управления и диагностики
1.1 Описание принципа работы устройства
1.2 Этапы развития микроконтроллеров
1.3 Производство микроконтроллеров
1.4 Пример применения микроконтроллеров
2 Выбор и разработка микроконтроллера
2.1 Основные параметры выбора микроконтроллеров
2.2 Обзор и сравнение нескольких микроконтроллеров
2.3 Выбранный микроконтроллер 1986ВЕ8Т
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
ПРИЛОЖЕНИЕ А









ПЕРЕЧЕНЬ СОКРАЩЕНИЙ И ОБОЗНАЧЕНИЙ
АЛУ – Арифметико-Логическое Устройство
АЦП – Аналого-Цифровой Преобразователь
КНИ – Кремний на Изоляторе
КП – Контактная плошадка
МК – Микроконтроллер
НДС – Налог на Добавленную Стоимость
ОЗУ – Оперативное Запоминающее Устройство
ПЗУ – Постоянное Запоминающее Устройство
ФСС – Фосфоросиликатное стекло
ЦАП – Цифро-Аналоговый Преобразователь
ЦП – Центральный Процессор
ЦПУ – Центральное Процессорное Устройство
ШИМ – Широтно-Импульсная Модуляция
ARM – Acorn RISC Machine
AVR – Advanced Virtual RISC
BGA – Ball Grid Array
CAN – Controller Area Network
CISC – Complicated Instruction Set Computer
CSP – Chip Scale Package
DMA – Direct Memory Access
DMIPS – Dhrystone Million Operations Per Second
DSP – Digital Signal Processing
EEPROM – Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory
I2C – Inter-Integrated Circuit
IFCG – International Financial Consulting Group
LGA – Land Grid Array
MIPS – Million Operations Per Second
PIC – Peripheral Interface Controller
PROM – Programmable Read Only Memory
QFN – Quad Flat No-leads
RISC – Reduced Instruction Set Computer
ROM – Read Only Memory
SIP – System in Package
SOIC – Small Outline Integrated Circuit
SPI – Serial Peripheral Interface
UART – Universal Asynchronous Receiver-Transmitter
UV – Ultraviolet

ВВЕДЕНИЕ
Современные системы измерения, контроля, управления и диагностики идут по пути уменьшения массогабаритных размеров электронных средств при одновременном улучшении их функциональных и эксплуатационных характеристик. Решение этого вопроса возможно за счет повышения степени интеграции элементной базы.
Актуальность данной темы заключается в том, что в современной микроэлектронике никакой прибор не обходится без систем измерения, контроля, управления и диагностики.
Перспективным подходом к достижению высокой степени интеграции является использование таких технологии как SIP, CSP. С помощью этих технологий можно упаковывать большое количество функций и компонентов в небольшом пространстве. Это приводит к созданию более компактных, легких и энергоэффективных систем измерения, конт