ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
СИСТЕМА ОЦЕНОК
Контрольные
мероприятия
Рейтинг
мин./макс
Тест
5/10
Тест
8/15
Тест
12/20
Тест
Домашнее задание
5/10
17/30
Модуль 5
Тест
5/10
Модуль 6
Тест
3/5
Семестр 1
Модуль 1
Модуль 2
Модуль 3
Модуль 4
удовлетворительно
60…70
хорошо
71…84
отлично
85…
Бонус 8 баллов – за отличную посещаемость лекций
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС
3 курсТЭЭНУМК_файлы
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ОБЪЕКТ ИЗУЧЕНИЯ
сложные системы
МИКРОУРОВЕНЬ
Системы с распределенными
параметрами (сплошные среды)
_____________
Фазовые переменные зависят от
пространственных координат и времени
МАКРОУРОВЕНЬ
Системы с сосредоточенными
параметрами (технические
объекты)
_____________
МЕГАУРОВЕНЬ
Системы с большим числом
сосредоточенных параметров
(сложные технические объекты)
Фазовые переменные зависят от времени
М О Д Е Л И Р О В А Н И
Е
Диф. ур-я в частных
производных
(Методы математической
физики)
Системы
обыкновенных
дифференциальных
уравнений
математические
модели вида
«черный ящик»
Разностные уравнения
(статистические методы)
И
Н
С
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ПОРЯДОК ДЕЙСТВИЙ
Оптимизация
Моделирование
Анализ
факторов,
действующих в
системе
Первичная
обработка
результатов
эксперимента
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ЛОГИКА ПОСТРОЕНИЯ КУРСА
1. Экспериментально-статистические методы исследования. Первичная
обработка результатов эксперимента
2.
Выявление значимых факторов технологического процесса
3.
Моделирование технологического процесса
4.
Оптимизация технологического процесса
5.
Исследование процессов в производственных условиях
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ФАКТОРЫ В СЛОЖНОЙ СИСТЕМЕ
Входные контролируемые и
управляемые
параметры
Х (Х1, Х2 .....Хк)
Входные контролируемые неуправляемые параметры
W (W1, W2 .....Wm)
Сложная система
Входные
неконтролируемые
неуправляемые
параметры
Z (Z1, Z2 .....Zl)
Выходные параметры
(функции отклика)
Y
(У1, У2 .....Уn)
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ. ВЫБОРОЧНЫЕ СТАТИСТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
n
x
xi
i 1
2
n
s
n
( xi x) 2
i 1
S = (S2 )1/2
f=n–l
(n 1)
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ТОЧНОСТЬ
ТОЧНОСТЬ –
степень близости результата измерения
к принятому опорному значению
ПРАВИЛЬНОСТЬ
(близость среднего значения серии
измерений к принятому опорному)
СИСТЕМАТИЧЕСКАЯ
ПОГРЕШНОСТЬ
МЕТОДА
+
ПРЕЦИЗИОННОСТЬ
(степень близости друг к другу независимых результатов измерений)
ПОВТОРЯЕМОСТЬ
ЛАБОРАТОРНАЯ
составляющая
систематической
погрешностью
ВОСПРОИЗВОДИМОСТЬ
8
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ТОЧНОСТЬ
ОПЕРАТОР
ИСПОЛЬЗУЕМОЕ
ОБОРУДОВАНИЕ
Факторы,
влияющие на
прецизионность
КАЛИБРОВКА (ПОВЕРКА)
ОБОРУДОВАНИЯ
ВНЕШНИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ
ИНТЕРВАЛЫ МЕЖДУ
ИЗМЕРЕНИЯМИ
9
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
ТОЧНОСТЬ
ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА В ЭЛЕКТРОНИКЕ И НАНОЭЛЕКТРОНИКЕ. ВВЕДЕНИЕ
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ КОНЦЕПЦИИ ТЕОРИИ ЭКСПЕРИМЕНТА
• Статистические выводы основываются на гипотезах
• Рандомизация
• Последовательность эксперимента
• Многофакторный анализ
• Использование нескольких моделей
• Редукция (свертка) информации
