OKTRES (Методы и отчеты по лабам РЭС), страница 12

Для одно- и двукратновыборочных планов по известным параметрам n1, c1, c2, n2, c3 можно построить оперативную характеристику, рассматривая ее как вероятностьпринятия партии с долей брака р.Проверяемые характеристики для контроля партии изделий по методу двукратной выборки могут быть определены следующим образом:1) объем первой выборки n1 должен составлять две трети от объемаэквивалентной однократной выборки, т. е. n1=2/3n0;2) объем второй выборки должен в два раза превышать объем первойвыборки, т. е.

n2=2n1.Метод последовательного анализа. Объем испытаний заранее неустанавливается, а количество изделий в выборке постепенно увеличивается, т. е. из проверяемой партии последовательно (но случайным образом)берутся изделия по одному (или по несколько) и определяются их характеристики. По этим характеристикам принимается одно из трех решений:1) принять партию;2) забраковать партию;3) продолжать контроль.Контроль заканчивается в случае, когда принимается первое иливторое решение.При использовании данного метода сравнивают величину γ , называемую отношением правдоподобия, с величинами β/(1-α) и (1- β )/α, причем, еслиγ ≥ (1- β )/α - партия бракуется;(5.1)γ ≤ β/(1-α) - партия принимается;(5.2)β/(1-α) <γ <(1- β )/α - контроль продолжается.(5.3)В случае распределения дефектных изделий по закону Пуассона (чтоимеет место при p=(m/n)<0,1) отношение правдоподобия будет выражаться через плотности распределения числа дефектных изделий в выборкеf(m,λ), т.

е.721(n ⋅ pβ )m ⋅ e−(n⋅ p β )f (m, λ2 ) m!,=γ =f (m, λ1 ) 1 (n ⋅ p )m ⋅ e − (n⋅ pα )αm!(5.4)где λ1=m рα и λ21=m рβ - математические ожидания числа дефектныхизделий в выборке n с учетом вероятностных ошибок α и β соответственно.При контроле каждого последующего изделия в выборке границыдля соотношения правдоподобия не меняются, меняются лишь само соотношение. Это позволяет свести метод последовательного анализа к элементарно простым алгоритмам.Прологарифмировать выражение (5.4) и, разрешив полученное уравнение относительно m, получим выражения для определения границ зоныприемки и зоны браковки партии изделий:где⎛p⎞A + n ⋅ pα ⎜⎜ β − 1⎟⎟⎝ pα⎠,mн =pβlnpα(5.5)⎛p⎞B + n ⋅ pα ⎜⎜ β − 1⎟⎟⎝ pα⎠,mв =pβlnpα(6.6)A = lnβ1− β, B = ln1−αα.В соответствии с уравнениями (5.5) и (5.6) построим в системе координат {m, n} прямые для mн и mв (рис.

5.5). Эти прямые параллельны, поскольку их угловые коэффициенты равны и разделяют плоскость системыкоординат на три зоны: приемки, браковки и продолжения контроля.Если опытная точка (координаты которой определяются по нарастающему итогу величин m и n) попадает в зону браковки, то проверку прекращают, а партию изделий бракуют.73Порядок выполнения работы1.Получить вариант задания (табл. 5.1), проанализировать исходныеданные и рассчитать недостающие характеристики, пользуясь номограммой(рис.5.3).

В дальнейшем пп. 2-6 выполнять на ЭВМ в соответствии с инструкцией к «Программе» работы на ЭВМ.Таблица 5.1αβ№вариантаpα10.010.060.050.1122-2.252.891.820.030.070.150.2122-1.451.670.8530.0060.010.10.2011-1.52.083.040.020.040.020.1011-2.283.80.750.10.20.020.06233-2.973.860.760.0010.060.050.1122-2.252.893.9pβс1с2c3=c2ABlnpβpα2. По заданному варианту построить оперативную характеристику почетырем характерным точкам.3.

Проконтролировать n резисторов по методу однократной выборки.Сделать вывод по результатам контроля.4. Проконтролировать n1 резисторов первой выборки по методу двукратной выборки. По результатам контроля принять решение.5. Проконтролировать n2 резисторов второй выборки (если принятосоответствующее решение по п. 4) и сделать выводы.6.

Проконтролировать исследуемую партию резисторов методом последовательного анализа:6.1. Рассчитать значения границ зоны приемки mн и зоны браковки mвпо формулам (5.5) и (5.6).6.2. Построить предельную диаграмму в соответствии с рис. 5.5 ирассчитанными значениями границ mн и mв.746.3. Поочередно контролируя резисторы, фиксировать и заносить награфик рис. 5.5 количество дефектных резисторов m. По расположению точек (m, n) принимать решение о принятии или браковке партии резисторовили продолжении контроля.7. Полученные в п. 6 результаты сравнить с результатами контроляэтой же партии резисторов двумя предыдущими методами.

Сделать выводы по всем трем методам статистического контроля качества партии резисторов.8. Повторить пп. 4 – 7 для нового допуска на резисторы (по заданиюпреподавателя).9. Оформить отчет о выполненной работе.Работа может выполняться на ЭВМ. При этом все изучаемые процессы имитируются на ЭВМ (построение графиков, выдача справочной и контрольной информации). При использовании в работе ЭВМ необходимо руководствоваться специально разработанным руководством пользователя.Содержание отчета1.2.3.4.Краткое описание работы (цель, основные методы и задание).Оперативная характеристика для метода однократной выборки.Диаграммы методов однократной и двукратной выборок.Предельная диаграмма метода последовательного анализа.755.

Результаты контроля по всем трем методам статического контроля качества резисторов.6. Выводы о проделанной работе.Контрольные вопросы1. Дайте сравнительную характеристику основных путей реализациивыборочного контроля качества продукции.2. Назовите основные методы приемочного статистического контроля качества изделий и дайте их краткую характеристику.3.

Поясните принцип метода однократной выборки; метода двукратной выборки; метода последовательного анализа.4. Что представляет собой идеальная оперативная характеристика?5. Как построить оперативную характеристику выборочного контроля по характерным точкам?6. Как рассчитывается объем выборки для контроля по методу однократной выборки? По методу двукратной выборки?7. Нарисуйте схему приемочного контроля по методу последовательного анализа и поясните методику принятия решения по результатам контроля.8.

Как рассчитать и построить границы зон приемки и браковки дляконтроля по методу последовательного анализа?Библиографический список1. Шторм Р. Теория вероятностей. Математическая статистика. Статистический контроль качества.

– М.:Мир,1970.2. Коуден Д. И. Статистические методы контроля качества. – М.:Физматиздат, 1961.76СОДЕРЖАНИЕПредисловие3Работа 1. Разработка топологии гибридной тонкопленочной микросборкиРабота 2. Разработка конструкции блока вычислительного РЭС на стадии эскизного проектирования с использованием персонального компьютераРабота 3. Исследование теплового режима блока цифрового радиоэлектронного средства на бескорпусных микросборкахРабота 4. Отработка функциональных показателей микросборок экспериментальными методамиРабота 5.

Изучение статистических методовприемочного контроля микроэлектронных устройств77429445768.