Учебное пособие (иллюстративные материалы) под ред. акад. РАН Ю.Д.Третьякова, страница 3
Описание файла
PDF-файл из архива "Учебное пособие (иллюстративные материалы) под ред. акад. РАН Ю.Д.Третьякова", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "общая и неорганическая химия" из 1 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГУ им. Ломоносова. Не смотря на прямую связь этого архива с МГУ им. Ломоносова, его также можно найти и в других разделах. .
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 3 страницы из PDF
Дляоценки работы студентов используетсясистема рейтинга, результаты которогоподводятся каждые 12 недель.БольшоевниманиеФНМуделяетразвитиюмеждисциплинарногоматериаловедческого образования не только вМГУ, но и в целом в России, являясьсвоеобразным лидером и одновременно –естественнымцентромпритяженияединомышленников из других престижныхВУЗов. Факультетом наук о материалахпроводятсясовременныемеждисциплинарныеисследования,направленные на получение новых классовфункциональных материалов, связанных сразвитием приоритетных направлений наукив Российской Федерации.
Особое вниманиеуделяется наноматериалам, биоматериалам,электрокерамике,функциональнымкомпозитам,тонкимпленкамигетероструктурам. За последние 10 летудалось достичь перспективных результатов вразличных областях передовых наукоемкихисследований, сопоставимых по своемунаучному уровню с лучшими мировымидостижениями.Главное отличие системы подготовкистудентов на ФНМ – режим максимальногоблагоприятствования для занятий научнойработой. Студенты вовлекаются в научнуюработу уже с первого дня обучения нафакультете,когдаимвыделяетсяиндивидуальный куратор, под руководством14Отделение ФНМ Центра коллективногопользования МГУ “Технологии полученияновых наноструктурированных материалов иих комплексное исследование”. Отделениеоснащено самым современным, в рядеслучаев - уникальным оборудованием,предназначенным для решения самогоширокого спектра исследовательских задач.приставкой для анализа состава поверхноститвердых веществ ().Масс – спектральный анализ:масс - анализатор ионов и нейтральныхчастицINA-3(LEYBOLD-HERAUS);лазерный масс-спектрометер LAMMA-1000(LEYBOLD-HERAUS).Микроструктурные исследования:просвечивающий электронный микроскопJEM-2000 FXII (JEOL); сканирующийэлектронныймикроскопвысокогоразрешения Supra 50VP (LEO) с системоймикроанализа INCA Energy+ (Oxford);металлографическиймикроскопEclipse600pol (Nikon); Инверсионный оптическиймикроскоп METAM РВ-21 (ЛОМО), Атомно Силовой Микроскоп «Интегра» (NT MDT).Анализплощадиповерхностиипористости:NOVA4200е(QUANTACHROMEINSTR., USA, метод капиллярной адсорбцииазота).Элементный анализ:атомно-эмиссионный спектрометрAES Perkin Elmer Optima 5300ICPПрочее оборудование:установки и программное обеспечениедлязондовойМессбауэровскойспектроскопии, лазерный анализатор частицAnalyzitte22(FRITCH);сублиматоры(USIFROIDSMH-15);установкадляраспылительнойсушки(BUCHI-190);шаровые мельницы планетарного типа(FRITCH Pulverizette Series); прессы дляхолодного/теплого(до250-500°C)прессования(CARVER);трубчатыеикамерные печи различных конструкций до1200-1650°C, аналитические весы Sartorius.Рентгеновские исследования:порошковый дифрактометр STADI PSTOE; монокристальный дифрактометр CAD4(ENRAF);порошковаякамерамонохроматор FR-552 (ENRAF - NONIUS).Магнитные,электрофизическиеиэлектрохимические измерения:установка для измерения температурнойзависимости сопротивления материалов;установка для измеpения комплексноймагнитной воспpиимчивости SCC (APDCryogenics);весыФарадея;электрохимическая система потенциостатSolartron 1287/ анализатор частот Solartron1255B (Solartron).Центробладаетнеобходимымисредствами вычислительной техники (19нодовый кластер “Beowulf” на основедвухпроцессорных 2,2 ГГц Intel Xeon нод) исовременным программным обеспечением.Термоаналитические исcледования:комплексныйдифференциальнотермическийитермогравиметрическийанализ - термоанализаторы (Perkin-ElmerTG7, DSC STA-409, Pyris Diamond).План поставки оборудования на 20062007 г.
включает:рентгеновскийдифрактометрсприставкойдлявысоко-температурного,низко-температурного и текстурного анализаRigaku D/MAX 2500, SQUID-магнетометрCryogenicS-700,ионно-электронныймикроскоп FEI Quanta 200 3D, современныймасс-анализатор Perkin-Elmer DRC2, Раманспектрометр Renishaw InViaСпектроскопические исследования:УФ-вид. спектрофотометр Lambda 35(Perkin-Elmer); ИК-спектрофотометр SpectrumOne(Perkin-Elmer);люминесцентныйспектрометр LS 55 (Perkin-Elmer), анализаторхимического состава проб с использованиеминдуктивно-связанной плазмы с лазернойАдрес ФНМ:119992, Москва,Ленинские Горы,Московский ГосударственныйУниверситет им.
М.В. Ломоносова,корпус «Б»,Факультет Наук о Материалахwww.hsms.msu.ru15119992, Москва, Ленинские горы, ФНМ МГУfmg.inorg.chem.msu.ru, www.hsms.msu.ruтел. (495)-939-47-29 факс (495)-939-09-98goodilin@inorg.chem.msu.ruИздание осуществлено при поддержкенациональной программы «Образование»и Российской Академии Наук16.