сведения о вед.орг - МИФИ (Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения)
Описание файла
Файл "сведения о вед.орг - МИФИ" внутри архива находится в следующих папках: Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения, Документы. PDF-файл из архива "Создание высокоточных методов анализа твердых тел на основе расшифровки данных электронной спектроскопии методами инвариантного погружения", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МГУ им. Ломоносова. Не смотря на прямую связь этого архива с МГУ им. Ломоносова, его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
Полное название: Федеральное государственное автономноеобразовательное учреждение высшего профессионального образования«Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»Короткое название: НИЯУ МИФИпочтовый адрес: 115409, г.
Москва, Каширское шоссе д.31телефон: +7 (495) 788-56-99e-mail: rector@mephi.ruсайт: https://mephi.ru/Список основных публикаций работников организации по теме диссертацииза последние 5 лет: Мамедов Н.В., Курнаев В.А., Иванов Д.В., Синельников Д.Н.Применение спектроскопии рассеянных ионов для анализавзаимодействия плазмы с поверхностью // Известия Российскойакадемии наук. Серия физическая. 2012.
Т. 76. № 6. С. 764. Зибров М.С., Писарев А.А., Ходаченко Г.В., Мозгрин Д.В. Созданиетонких защитных углеродных покрытий на алюминии // Успехиприкладной физики. 2013. Т. 1. № 2. С. 167-172. Begrambekov L., Dubrov M., Kaplevsky A., Kuzmin A., Mischenko A.,Shigin P., Zakharov A., Barsuk V., Klimov N., Kovalenko D., PodkovyrovV., Zhitlukhin A. Deuterium trapping in carbon films formed in differentdeposition conditions // Journal of Nuclear Materials.
2013. Т. 438. №SUPPL. С. S971-S974. Zolotukhin A.A., Safonov I.V., Kryzhanovskii K.A. 3D reconstruction for ascanning electron microscope // Pattern Recognition and Image Analysis(Advances in Mathematical Theory and Applications). 2013. Т. 23. № 1. С.168-174. Matveyev Yu.A., Markeev A.M., Lebedinskii Yu.Yu., Chouprik A.A.,Egorov K.V., Zenkevich A.V., Drube W. Resistive switching effect inhfxal1-xoy with a graded al depth profile studied by hard x-rayphotoelectron spectroscopy // Thin Solid Films.
2014. Т. 563. С. 20-23. Фоминский В.Ю., Григорьев С.Н., Романов Р.И., Зуев В.В., ГригорьевВ.В. Свойства тонких пленок оксида вольфрама, формируемыхметодами ионно-плазменного и лазерного осаждения для детектораводорода на основе структуры MOSIC // Физика и техникаполупроводников.
2012. Т. 46. № 3. С. 416-424..
