0071_ResponseOpp1_Luckin (Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм)

отзыв официального оппонента на диссертацию Колючкина Василия Васильевича «Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм», представленную на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11,07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы Актуальность темы диссертации Защитные голограммы (ЗГ) широко используются в нашей стране и за рубежом как эффективное средство борьбы с подделками различных изделий и документов.

При этом надежность ЗГ определяется их конструкцией и в значительной степени обеспечивается качеством изготовления. Но на отечественных предприятиях до настоящего времени контроль качества ЗГ в основном осуществляется на основе экспертных оценок, результаты которых являются субъективными и не в полной мере отвечают требованию достоверности. Такое состояние дел обусловлено тем, что в области контроля качества при серийном и массовом производстве ЗГ существует целый ряд нерешенных задач, главными из которых являются отсутствие научно обоснованной методики и специализированной аппаратуры для контроля качества изготовления ЗГ.

В связи с этим тема диссертационной работы Колючкина В.В., посвященной разработке и исследованию методов и оптико-электронных средств для оперативного контроля качества ЗГ, несомненно является актуальной. Новизна и достоверность научных положений диссертации Целью диссертационной работы Колючкина В.В. является разработка методов и принципов построения ОЭП, предназначенных для реализации оперативного контроля качества ЗГ. В первой главе диссертации на основе обзора соответствующих литературных источников автором предложена классификация существующих методов контроля качества по способам измерения параметров и характеристик. На основе этой классификации проведен критический анализ известных достижений в области контроля ЗГ и сформулированы цель и задачи диссертационной работы. Вторая глава диссертации посвящена разработке методики контроля качества ЗГ, которая, в соответствии с поставленной автором задачей, должна базироваться на объективных подходах и обеспечивать оперативный контроль на всех этапах технологического цикла изготовления, начиная с получения мастер-матриц и кончая серийным производством ЗГ.

Следует отметить, что автором выполнен достаточно глубокий теоретический анализ влияния параметров элементарных дифракционных решеток (ДР), образующих конструкцию ЗГ, в том числе математическое описание явления дифракции на отражающих ДР, форма профиля штрихов которых имеет случайные отклонения от заданной (идеальной). Результатом этих теоретических исследований явилось обоснование предложенной автором методики контроля качества ЗГ, которая основана как на прямых измерениях геометрических параметров профиля ДР с использованием сканирующих зондовых микроскопов, так и на косвенных измерениях, позволяющих оценить параметры ДР по распределению интенсивности в главных максимумах дифракционной картины.

Для косвенных измерений автором предложено использовать калибровочную зависимость, которая определяется как отношение зависимостей интенсивности в первом и втором главных максимумах ди фракционной картины от глубины микрорельефа. Эти калибровочные зависимости предложено определять расчетным путем на основе данных прямых измерений и с учетом СКО случайных отклонений микрорельефа. В главе приведены результаты расчетов для синусоидальной, гребенчатой и трапецеидальной формы профиля штрихов, которые свидетельствуют о потенциально высокой чувствительности и точности предложенного автором метода контроля на основе косвенных измерений. В третьей главе диссертации изложена методика проектирования ОЭП для контроля качества защитных голограмм и результаты экспериментальных исследований. Предложены оригинальные функциональные схемы ОЭП, обеспечивающие реализацию методики оперативного контроля качества ЗГ, причем одна из схем защищена патентом на полезную модель.

Приведено описание методики проектирования ОЭП, предназначенного для контроля ЗГ на основе метода косвенных измерений. Эта методика реализована в ходе создания макетного образца прибора, который был использован при проведении экспериментальных исследований, экспериментальных исследований, подтвердивших основные теоретические положения диссертации, в том числе: адекватность предложенного автором математического описания явления дифракции при наличии случайных искажений формы профиля ДР; — корректность основных положений разработанной в рамках диссертации методики проектирования ОЭП, предназначенных для контроля ЗГ и мастер-матриц ЗГ на основе метода косвенных измерений.

При проведении исследований автором грамотно использован аппарат скалярной теории дифракции и теории случайных процессов и полей, а экспериментальные исследования в полной мере подтверждают теоретические выводы диссертации. В связи с этим достоверность основных результатов представленной работы не вызывает сомнений. Материалы диссертации доложены на б международных конференциях, изложены в 14 публикациях, в том числе в 5 статьях, опубликованных в журналах, входящих в Перечень ВАК РФ. Ценность для науки и практики В целом, результаты, полученные автором диссертации, являются новыми научными знаниями в области оптоэлектроники.

Наиболее значимыми и обладающими новизной для теории и практики являются следующие результаты работы: 1) впервые получены аналитические выражения, описывающие распределение интенсивности в главных максимумах дифракционной картины при наличии случайных искажений профиля микрорельефа дифракционных решеток; 2) разработана методика оценки параметров профиля микрорельефа дифракционных решеток ЗГ на основе прямых измерений, позволившая автору обосновать допустимые значения погрешностей ОЭП, используемых при оценке параметров ЗГ; 3) разработан метод оперативного контроля качества ЗГ, основанный на косвенных измерениях глубины и пространственного периода профиля микрорельефа дифракционных решеток ЗГ; 4) предложена методика контроля качества ЗГ, основанная на прямых и косвенных измерениях параметров профиля микрорельефа ДР, позволяющая контролировать качество ЗГ на всех стадиях технологического процесса изготовления; 5) предложены оригинальные функциональные схемы и разработана методика проектирования ОЭП для контроля качества ЗГ.

Оценка содержания диссертации Диссертация Колючкина В.В. представляет собой законченную квалификационную работу, выполненную на достаточно высоком научнотехническом уровне. Полученные автором результаты достоверны, выводы и заключения обоснованы. Текст диссертации изложен логично и грамотно. Автореферат в полной мере отражает содержание диссертации. Недостатки диссертационной работы: 1) не обосновано принятое автором допущение о нормальном законе распределения случайного поля искажений профиля микрорельефа элементарных ДР; 2) не определено допустимое значение СКО случайных искажений профиля микрорельефа дифракционных решеток ЗГ; 3) автор многократно использует термин «эталонная» ЗГ. Повидимому, корректнее было бы «образцовая» ЗГ (образец сравнения).

Отмеченные недостатки не носят принципиального характера и не влияют на общую положительную оценку работы. В представленной диссертации содержится решение актуальной технической задачи, имеющей существенное значение для оптотехники. Она отвечает требованиям ВАК, предъявляемым к диссертациям на соискание ученой степени кандидата технических наук, а ее автор, Колючкин Василий Васильевич, заслуживает присуждения ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. Официальный оппонент, д.т.н., профессор, научный руководитель направлений дифракционной и асферической оптики, главный научный сотрудник АО «НПО «ГИПО» Лукин Россия, 420075, Республика Татарстан, г. Казань, ул.

Н.Липатова, д. 2.8-843-2948711, про81ро®1пр1о.ги Подпись официального оппонента, д.т.н., профессора, научного руководителя направлений дифракционной и асферической оптики, главного научного сотрудника АО «НПО «ГИПО» Лукина Анатолия Васильевича заверяю: .