Отзыв_ФГУП_ВНИИОФИ_Вишняков (Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм)

ОТЗЫВ на автореферат диссертационной работы Колючкина Василия Васильевича на тему «Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм», представленной на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 — «Оптические и оптико- электронные приборы и комплексы» В настоящее время для защиты продукции и документов от подделки во всем мире широко используются защитные голограммы (ЗГ), представляющие собой рельефно-фазовые ди фракционные структуры, выполненные на тонкопленочном полимерном носителе. Однако при серийном производстве ЗГ в технологическом процессе возникают различного рода погрешности, сбои машин, износ никелевых мастер-матриц, что приводит к неуправляемой потере качества голографического изображения.

В связи с этим тема диссертационной работы Колючкина В.В., посвященная разработке методов и автоматизированного оптико-электронного прибора для контроля качества защитных голограмм, является актуальной. Автором предложена математическая модель рельефно-фазовой дифракцио иной решетки, синусоидальный профиль которой искажен случайными помехами, вызванными физико-химическими свойствами материалов и несовершенством технологического оборудования при изготовлении ЗГ.

Проведен в рамках скалярной теории ди фракции теоретический анализ распределения интенсивности лазерного излучения в дифракционных порядках и показана их связь с такими геометрическими параметрами как период, глубина и профиль рельефно-фазовых дифракционных решеток (ДР). Учет случайных помех позволяет значительно повысить точность определения параметров микрорельефа и улучшить оценку качества ЗГ. По результатам этого анализа автором предложен критерий оценки качества ЗГ, основанный на сравнении исследуемых образцов ЗГ с эталонными образцами ЗГ, параметры которых предварительно априорно известны. Предложена методика объективного контроля качества защитных голограмм, которая базируется на предварительных априорных прямых измерениях эталонных образцов и последующих косвенных измерениях параметров (период, глубина) профиля ДР контролируемых образцов.

Эта методика предназначена для оценки качества ЗГ на всех стадиях технологического процесса их изготовления, включая изготовление мастер-матриц, рабочих матриц и серийных образцов ЗГ. Разработанная методика легла в основу оптико-электронного прибора, предназначенного для контроля и количественной оценки качества ЗГ. Автором разработаны оптическая схема, конструкция и специализированное программное обеспечение прибора и проведены на нем экспериментальные исследования по оценке качества конкретных типов ЗГ, которые подтвердили основные теоретические выводы и научные положения. Достоверность результатов подтверждена публикациями автора в журналах, входящих в список ВАК, апробациями в докладах на конференциях и патентом.

Результаты работы внедрены в АО «Гознак» - ведущим предприятиям в РФ по изготовлению защищенных документов. В качестве недостатка следует отметить, что из автореферата неясно возможно ли применение данного метода и методики оценки качества не только для отражательных, но и для пропускающих ЗГ.

Также надо отметить, что в автореферате в формулах на стр. 6 не приведены физические величины, обозначенные буквами р и Ао. Указанные недостатки не снижают ценности основных результатов диссертации, положений, выносимых на защиту, ее научной и практической значимости. На основании содержания автореферата можно сделать вывод о том, что представленная диссертация является законченной научно-квалификационной работой, которая соответствует требованиям, предьявляемым ВАК РФ к кандидатским диссертациям, а ее автор, Колючкин Василий Васильевич, заслуживает присуждения ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 — «Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы».

Начальник лаборатории, доктор технфчввких наук, профессор ФГУП "Всероссийсщй".",..": ',.'.'.:":-";"':,:.;., научно-исследовательский инстнтут.,::,.:.:: "'.' - ': оптико-физических измерений';::: "..-;;.:;;.':-:;~ Г.Н.Вишняков 119361, г.

Москва, ул.Озерная, 46"-'т;;:::$,,',1Ь5-,,~Г373377, ъьЬЯ'.:удйоб.гп Подпись Вишнякова Геннадия Николаевич удостоверяю $ Л.Н. Анисимова Ученый секретарь института .