Отзыв_ОАО_НПО_Геофизика-НВ (Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм)
Описание файла
Файл "Отзыв_ОАО_НПО_Геофизика-НВ" внутри архива находится в следующих папках: Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм, Отзывы на автореферат. PDF-файл из архива "Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "диссертации и авторефераты" в общих файлах, а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
«Зс(епбгг(с Ргодосбоп Опт 6ЕОРН(2(КА-МЧ» 81ос(г Соптрапу («ЗР() ОЕОРН(4(КА-НЧгг В<.сопт.) Ма1говвкауа Т)вива 81г., 23, ЫФ2, Мовсоиг, 107076 р)гопе: +7 (499) 269-01-42, 269-27-42 Гах: + 7 (495) 603-08-87 Е-так деа е!пе<.гпвв.гп ОТ«» 2017 г. на 107005, Москва, 2" Бауманская ул., 5 Направляем Вам отзыв на автореферат диссертационной работы Колючкина Василия Васильевича на тему «Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм», представленной на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 — Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы Приложение: Отзыв на автореферат на 2 л, 2 экз. Генеральный директор, д.т.н., профессор '). Л В.А.
Солдатенков Открытое акционерное обвцество «Научно-производственное объединение Геофизика-Нв» (ОАО «НПО Геофизика-НВ») уп. Матросская Тишина, д.23, стр.2, Москва, 107076 телефон: (499) 269-01-42, 269-27-42 Факс: (495) 603-08-87 Е-гпа)!: 9ео©е!пе1 гпваго ОКПО 29360564 ОГРН 1027739417551 ИНН 7718098980 КПП 771801001 6еорЫа И (~а)(- Ъ~вий-В Ученому секретарю диссертационного совета Д 212.141.19 МГТУ им. Н.Э.
Баумана Семе енко Д.А. «УТВН ЖДА1О» Генеральный директор ,"" '',,-'...,.,~ф'р,.;.,"-: " 'ОАО «НПО Геофизика-НВ» / ОТЗЫВ на автореферат диссертационной работы Колючкина Василия Васильевича на тему «Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм», представленной на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы В настоящее время в нашей стране и за рубежом рельефно-фазовые защитные голограммы (ЗГ) успешно используются для защиты документов, в частности, таких документов как паспорта граждан, пластиковые пропуска с электронными чипами, банковские ценные бумаги и карточки, медицинские препараты, документы об образовании и многие другие.
Тиражи ЗГ достигают миллиардов штук в год. В связи с этим диссертационная работа Колючкина В.В., посвященная разработке методов и оптико-электронных приборов для контроля качества защитных голограмм в реальном времени, является актуальной и своевременной. Автором предложены критерий принятия решения о качестве ЗГ и новые методы автоматизированного контроля мастер-матриц, рабочих матриц и серийных образцов ЗГ, выведены математические выражения, устанавливающие связь между пространственным распределением интенсивности в главных максимумах дифракционной картины и параметрами поля случайных искажений профиля дифракционных решеток.
В теоретической части диссертации наибольший интерес представляет предложенный автором метод контроля качества ЗГ на основе теории дифракции, описывающей зависимости распределения интенсивности в главных максимумах дифракционной картины при наличии случайных искажений профиля микрорельефа дифракционных решеток. Теория такого описания обеспечивает обнаружение локальных дефектов профиля дифракционных решеток мастер-матриц, рабочих матриц и серийных образцов ЗГ, а также позволяет проводить анализ дефектов профиля дифракционной решетки для принятия решения о годности ЗГ. В диссертационной работе получены математические выражения, описывающие в рамках скалярной теории явление дифракции на отражающей фазовой дифракционной решетке, профиль которой описывается периодической функцией произвольного вида, что позволило автору разработать алгоритм и программу расчета определения зависимости интенсивности в главных максимумах от значений геометрических параметров профиля ДР, положенных в основу предложенного оригинального метода оперативного контроля качества ЗГ на основе косвенных измерений.
С помощью новых разработанных методов задача контроля качества ЗГ может быть эффективно и успешно решена. Для проверки аналитических выражений, устанавливающих связь между пространственным распределением интенсивности в главных максимумах дифракционной картины и параметрами поля случайных искажений профиля дифракционных решеток, автором был разработана методика проектирования оптико- .