Отзыв_ГОИ_им._Вавилова_Корешев (Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм)

отзыв на автореферат диссертационной работы Колючкина Василия Васильевича на тему «Методы и оптико-электронные приборы для контроля качества защитных голограмм», представленной на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 — «Оптические и оптико- электронные приборы и комплексы» Защитные голограммы (ЗГ) широко используются для защиты от подделки государственных документов, паспортов, денежных знаков, акцизных марок и другой продукции и выпускаются массовыми тиражами от десятков тысяч штук и до нескольких миллионов штук. При серийном выпуске из-за неизбежно возникающих технологических ошибок типа износа никелевь|х рабочих матриц, сбоев настройки тиражных машин и др. проблем, возникает необходимость оперативного контроля и оценки качества голографических изображений, микротекстов, скрытых изображений с помощью автоматизированных оптико-электронных приборов без участия человека- контролера.

В связи с этим тема диссертационной работы Колючкина В.В., посвященная разработке методов и оптико-электронных приборов для контроля качества защитных голограмм, является актуальной. Научная новизна работы заключается в том, что автором впервые при теоретическом анализе распределения интенсивности в дифракционных порядках спектра, полученных при отражении лазерного излучения от защитной голограммы, были рассмотрены и учтены случайные искажения периода, глубины и геометрического профиля элементарных дифракционных решеток, обусловленные конкретными технологическими ошибками при массовом производстве голограмм.

Это позволило повысить точность определения периода и глубины поверхностного микрорельефа и улучшить оценку качества ЗГ. Важным моментом проведенного исследование явился выбор критерия качества ЗГ, основанный на сравнении исследуемых образцов ЗГ с эталонными образцами, параметры которых известны априорно. Автором предложена оригинальная методика контроля качества ЗГ, основанная на предварительных (априорных) прямых измерениях параметров дифракционных решеток и последующих косвенных измерениях по распределению в дифракц ионных порядках, позволяющая осуществлять контроль качества на всех стадиях технологического процесса изготовления защитных голограмм. Установлено, что максимальное отличие средних значений глубины рельефа, полученных в эксперименте на основе методов прямого и косвенного измерений, достигает величины 5,б нм, которая не превышает допустимого значения СКО погрешности измерения глубины равного б нм.

Этот факт подтверждает правильность положений разработанной в диссертации методики проектирования ОЭП, предназначенных для контроля ЗГ и мастер-матриц ЗГ на основе метода косвенных измерений. Практический интерес представляют разработанные автором оптические схемы специализированных оптико-электронных приборов (ОЭП), предназначенных для контроля качества ЗГ, и проведенные с их помощью экспериментальные исследования конкретных образцов ЗГ. Результаты были внедрены в АО «Гознак» и была продемонстрирована эффективность разработанного опытного образца ОЭП. Представленные в автореферате результаты экспериментов по оценке качества ЗГ, проведенные с помощью разработанного автором макета ОЭП, подтверждают сделанные им теоретические выводы и рекомендации.

Автореферат имеет четкую и ясную структуру и достаточно полно отражает суть диссертационной работы. Достоверность результатов подтверждена публикациями автора в журналах, входящих в список ВАК, их представлением на конференциях и патентом. Судя по автореферату можно сделать вывод о том, что представленная диссертация является законченной научно-квалификационной работой, которая соответствует требованиям, предъявляемым ВАК РФ, а ее автор, Колючкин Василий Васильевич, заслуживает присуждения ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.07 — «Оптические и оптико- электронные приборы и комплексы».

Начальник лаборатории голограммных оптических элементов и систем АО «Государственный оптический институт им. С.И.Вавилова», доктор технических наук .;Р...- ~ ~';=,.~ 3 Корешев С.Н. й.. г,4, «2Р» а.;,г~л . 2017 г. Адрес: Кадетская линия В.О., дом 5, корпус 2, С.-Петербург, Россия, 199053, тел. (812) 331-75-50, 1огезЬе~ 1Ы.гп .