Лекция 4 (лекции по УГФС), страница 5
Описание файла
Файл "Лекция 4" внутри архива находится в папке "лекции по УГФС". Документ из архива "лекции по УГФС", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "радиопередающие устройства" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лекции и семинары", в предмете "радиопередающие устройства" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Лекция 4"
Текст 5 страницы из документа "Лекция 4"
Определение проницаемости D
Для определения проницаемости в анодно-сеточной системе координат рассматриваются две характеристики анодного тока, соответствующие и На уровне тока отсчитываются два значения напряжения на сетке: и (рис.4.15).
Значение проницаемости
Определение напряжения запирания (сдвига) и напряжений приведения
В анодно-сеточной системе координат выбирается статическая ВАХ, соответствующая . При отсутствии таковой выбирается характеристика, соответствующая . Через точку , как и при определении статической крутизны S, проводится касательная, которая пересекает ось абсцисс в точке
(рис.4.16).
Н апряжение запирания принимается равным среднему арифметическому напряжений и :
где - напряжение на сетке, при котором реальная характеристика при выбранном пересекает ось абсцисс.
Зная величину напряжения запирания, можно, используя соотношение (*), определить напряжения приведения. Согласно (*)
Если напряжение для взятой ВАХ заметно отличается от принимаемого значения напряжения питания анода , то, определив напряжение приведения, следует, используя (*), уточнить величину напряжения запирания (сдвига):
Определение крутизны критической линии
В семействе анодных характеристик выбирается статическая ВАХ с таким напряжением на сетке , для которого середина криволинейного участка, соответствующего переходу от плавного изменения анодного тока при больших значениях к резкому изменению анодного тока при малых значениях , находится на уровне тока (рис.4.17).
Прямая, проходящая через начало координат и точку на характеристике, является линией критических режимов. Крутизна её
В случае тетрода с динатронным эффектом линия критических режимов аппроксимированных ВАХ выходит не из начала координат, а из точки (см.
рис.4.4,б). Определение крутизны критической линии осуществляется аналогично и поясняется рис.4.18. Как следует из рис.4.18,
г
де, напомним, величина анодного напряжения сдвига связывается с напряжением питания второй сетки через коэффициент динатронного эффекта . Если значение неизвестно, то следует принять = .
Определённые описанным выше способом параметры аппроксимированных статических ВАХ анодного тока генераторной лампы можно использовать и при значениях анодного напряжения и амплитуды импульсов анодного тока, отличающихся от выбранных , примерно, до ±20% в случае веерообразных реальных ВАХ. При этом сохраняется вполне достаточная для инженерных расчётов точность. Если реальные статические ВАХ лампы близки к параллельным прямым, то параметры аппроксимированных характеристик практически не изменяются при изменении .
Особенности определения эквивалентных параметров аппроксимированных статических ВАХ коллекторного тока транзистора
При наличии статических ВАХ коллекторного тока транзистора, соответствующих подобным ВАХ анодного тока, эквивалентные параметры статических ВАХ коллекторного тока биполярного транзистора: могут быть определены аналогично лампам. Значение , при необходимости, может быть уточнено с учётом соотношений, вытекающих из записи уравнения (4.17). Значение коэффициента D для транзистора может быть принято равным нулю.
В то же время, для транзисторов в справочниках обычно приводятся входные статические ВАХ iБ (еБ) при ЕК = 0 и ЕК < ЕК НОМ и выходные характеристики iК (еК) в зависимости от параметра iБ, которые отличаются от обычно приводимых в справочниках по лампам. Чтобы не пересчитывать приведенные в справочнике статические ВАХ транзистора к подобным для ламп, определить эквивалентные параметры статических ВАХ транзистора можно следующим образом.
Напряжение отсечки может быть определено по имеющейся входной статической ВАХ iБ (еБ) при ЕК < ЕК НОМ как среднее арифметическое напряжений отсечки реальной характеристики и напряжения отсечки, соответствующего касательной к реальной характеристике в основной области.
Крутизна линии критических режимов, она же линия насыщения, определяется, как и у ламп. В отдельных справочниках указывается величина сопротивления насыщения rНАС, которое связано с SКР соотношением: rНАС =1/ SКР.
Статическую крутизну коллекторного тока S следует определить как среднее арифметическое N крутизн Si
найденных с использованием выходных статических ВАХ iК (еК) при еК ЕК/2. Для этого при еК ЕК/2 для трёх-четырёх характеристик (N = 2-3) определяют соответствующие значения iК, а по значениям входного тока iБ, соответствующим этим характеристикам, по входным характеристикам определяют значения еБ. Отношение iК/еБ определяет значение статической крутизны Si.
Значение коэффициента D можно определить следующим способом. На выходных характеристиках в основной области на уровне любого значения тока при двух значениях напряжения на коллекторе еК ЕК и еК ЕК/2, отличающихся на еК, отмечаются входные токи, соответствующие этим характеристикам. По входной характеристике по найденным входным токам определяется значение еБ. Соответственно D = еБ/еК.
Вопросы для самоконтроля знаний по теме лекции 4:
-
Поясните своё понимание режима большого сигнала при работе АЭ в ГВВ. Можно ли использовать это понятие при условии, если колебательная мощность генератора существенно меньше мощности, которую может создать АЭ? Поясните.
-
Назовите основные параметры, описывающие семейство статических ВАХ выходного тока лампы и биполярного транзистора. Запишите соотношения для их определения. Уясните суть.
-
Сформулируйте отличия линий критических режимов в разных системах координат статических ВАХ. Поясните.
-
Выделите на статических ВАХ биполярного транзистора области: отсечки, активную, насыщения, пробоя. Поясните их.
-
Поясните понятия допараметрического, параметрического и граничного режимов ГВВ на биполярном транзисторе.
-
Поясните своё понимание целесообразности введения напряжений приведения: сеточного и анодного . Как они связаны между собою? Можно ли определить подобные напряжения для транзистора?
-
Поясните смысл напряжения . Какие названия к нему применяются? Поясните их смысл. Как определить ? Как связано с напряжением анодного питания ?
-
Запишите уравнения для области перенапряжённого режима ГВВ на лампе и для области насыщения ГВВ на биполярном транзисторе. Запишите такое же уравнение для ГВВ на тетроде с динатронным эффектом. В чём отличие?
-
Чему равно напряжение смещения, соответственно в ламповом и транзисторном ГВВ, для обеспечения режима с нижним углом отсечки выходного (анодного, коллекторного) тока =90? Как ответ согласуется с выражениями (4.15) и физической стороной режима?
-
Исходя из сути эквивалентных параметров статических ВАХ анодного тока, предложите метод определения напряжения сдвига (запирания) при интересующем напряжении на аноде , если известно значение и определено значение S.
-
Можно ли, используя прибор для измерения величины угла (транспортир) и таблицы значений тангенсов углов, определить статическую крутизну S и крутизну линии критических режимов . Если можно, то как, если нельзя, то почему? Поясните.
1 Обычно такие характеристики приводятся в учебных изданиях по генераторным и подобным устройствам, хотя реальные статические ВАХ коллекторного тока в области малых значений (рис.4.5,а) при разных значениях несколько расходятся.
2 Рассматриваются в лекции 18.
3 Если D = 0, то, согласно (*), . Следовательно, у тетродов и пентодов . Говорить о при этом не имеет смысла.
4 Происхождение выражения поясняется в конце лекции 6.
52