лаба 1 (Лабораторные работы (3 вариант))
Описание файла
Файл "лаба 1" внутри архива находится в следующих папках: Лабораторные работы (3 вариант), мой вариант, лаба 1. Документ из архива "Лабораторные работы (3 вариант)", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "вычислительная техника" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лабораторные работы", в предмете "вычислительная техника" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "лаба 1"
Текст из документа "лаба 1"
МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ИНСТИТУТ
РАДИОТЕХНИКИ. ЭЛЕКТРОНИКИ И АВТОМАТИКИ
(ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)
Факультет ВАВТ
Кафедра ВТ
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 1
ПО КУРСУ:
Периферийные устройства
Вариант № 3
СТУДЕНТЫ: Купцов Г.Г.
Ухачева В.
ГРУППА: ВТ-2-99
Москва 2004
Цель работы: Исследование комплекса характеристик быстродействия, надежности и стоимости узла цифровой аппаратуры - процессора ЭВМ, реализованного на БИС, выполненных на кремниевых технологиях различного уровня.
1. Провести исследование комплекса характеристик БИС, тип схемотехники для которых даны в задании в соответствии с номером бригады, путем изменения МЛР в пределах от 3 мкм до значения, когда отсутствует выход годных кристаллов, для значений базового коэффициента дефектности 5, 1, 0.5 деф./мм2. Площадь кристалла принимать равной 1 см2. По результатам исследования построить графики, качественно отражающие зависимость от МЛР степени интеграции БИС, времени задержки в одном ЛЭ, выхода годных и стоимости БИС, интенсивности отказов БИС. Зафиксировать МЛР, при которых отсутствует выход годных кристаллов. Объяснить, как изменяются зависимости при изменении базового коэффициента дефектности.
2. Провести исследование характеристик процессоров, выполненных на БИС, синтезированных в п.1 задания и имеющих объем, указанный в задании бригады. По результатам исследования построить графики, качественно отражающие зависимость от МЛР и площади кристалла рабочей частоты, стоимости и времени наработки процессоров. Указать среди процессоров наиболее надежные, а также процессоры с максимальным отношением рабочей частоты к стоимости (с минимальной стоимостью единицы быстродействия) для каждого типа схемотехники. Объяснить полученные результаты.
Задание:
1. Тип схемотехники: ЭСЛ
Объем процессора: 120 ЛЭ
Площадь кристалла: 1 см2
2. Тип схемотехники: КМОП
Объем процессора: 170 ЛЭ
Площадь кристалла: 1 см2
Выводы:
При уменьшении базового коэффициента дефектности происходит следующее:
- увеличивается выход годных кристаллов;
- уменьшается стоимость БИС;
- уменьшается стоимость одного логического элемента;
- уменьшается стоимость процессора;
Процессоры с минимальной стоимостью единицы быстродействия:
На схемотехнике ЭСЛ с рабочей частотой 909,09 МГц, минимальной стоимостью единицы быстродействия 0,57 у.е. при минимальном литографическом размере равном 1,1.
На схемотехнике КМОП с рабочей частотой 90,91 МГц, минимальной стоимостью единицы быстродействия 1,32 у.е. при минимальном литографическом размере равном 1,1.
Процессоры наиболее надежные:
На схемотехнике ЭСЛ с рабочей частотой 666,67 МГц, временем наработки на отказ 16800,15 часов при минимальном литографическом размере равном 1,5.
На схемотехнике КМОП с рабочей частотой 90,91 МГц, временем наработки на отказ 82552,88 часов при минимальном литографическом размере равном 1,1.