Вопросы 4-9-18-19 (Ответы к тесту №3)
Описание файла
Файл "Вопросы 4-9-18-19" внутри архива находится в папке "Ответы к тесту №3". Документ из архива "Ответы к тесту №3", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологии" из 7 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "контрольные работы и аттестации", в предмете "основы наноэлектроники и нанотехнологии" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Вопросы 4-9-18-19"
Текст из документа "Вопросы 4-9-18-19"
Вопрос 4
Шероховатость поверхности. Известно, что шероховатость изучаемой поверхности существенно влияет на достоверность результатов наноиндентирования. Так в одном из литературных источников было установлено, что чем шероховатость поверхности меньше, тем твердость материала (Ni) выше (см. Рис.8).
Рис.8
Для снижения ее роли в измерениях используется очевидный прием: усреднение результатов по большому количеству отдельных тестов, проведенных в эквивалентных условиях.
Для вычисления силы приложенной к зонду используют систему регистрации изгибов зондового датчика (далее – система регистрации). Система регистрации состоит из светодиода и фотодиода, расположенных, соответственно, в левой и правой частях держателя зондового датчика. Излучение от светодиода, проходя между нижней консолью зондового датчика и ограничителем изгиба консольной балки, попадает в фотодиод. Сигнал, зарегистрированный фотодиодом пропорционален силе приложенной к зонду (см. Рис. 4).
Рис. 4. Устройство оптического датчика: 1 – держатель зондового датчика; 2 – винт для настройки зондового датчика; 3 – алмазный индентер; 4 – консоли; 5 – ограничитель изгиба консольной балки; 6 – излучение от светодиода
По результатам индентирования строится так называемая P-h-диаграмма (см. Рис.5) (диаграмма нагружения индентора), являющаяся, в некотором смысле, аналогом классической σ-ε-диаграммы, получаемой при макроскопических испытаниях, например, при одноосном растяжении/сжатии. Анализ P-h-диаграмм позволяет исследовать влияние масштабного фактора на механическое поведение материалов, а также при помощи специальных методик определять количественно ряд величин, характеризующих механические свойства изучаемых материалов. Чаще всего для этого пользуются методикой Оливера-Фарра.
Рис.5. Схема нагружения и разгрузки образца
Вопрос 9
Вопрос 18
Вопрос 19