Вопросы к РК №1

Термин «нанотехнология»: происхождение, определение, области влияния.

Термодинамические функции состояния.

Оценка смачиваемости поверхности со сложным рельефом.

Почему сканирование в контактном режиме проводится обычно не очень быстро (для АСМ)?

Суть и особенности методов ДБЭ и ДМЭ.

Виды неуглеродных нанотрубок, методы получения, свойства.

Классификация наноматериалов.

Основные проблемы наноэлектроники.

Свободная энергия поверхности. Поверхностное натяжение и краевой угол смачивания.

Какой режим СЗМ быстрее: постоянной силы или постоянной высоты?

Эффект Тиндаля.

Методы локального анализа поверхности.

Термодинамические функции процесса.

Преимущества и недостатки метода кольца Дью Нуи.

Возможности сканирующей электронной микроскопии.

Области применения магнито-резонансных методов исследования.

Одноэлектронный транзистор.

Основные характеристики дисперсных систем.

Поверхностные явления (примеры). Когезия, адгезия, смачивание.

Измерение малого поверхностного натяжения.

Что определяет разрешение в АСМ, а что в СТМ? Возможно ли достижение атомарного разрешения в АСМ и почему?

Дисперсная система: определение и классификация.

Виды спектроскопии, отличия.

Принципиальная схема оптического зонда для БОМ (режим облучения зондом).

Оценка смачиваемости пористых материалов.

Связь поверхностного натяжения и объемных свойств веществ.

Размерный эффект: определение, особенности проявления, примеры.

Особенности ПЭМ и СЭМ.

Какое явление лежит в основе метода РФЭС?

Принципиальная схема оптического зонда для БОМ (режим просачивания света в зонд).

Причины применения кремния в электронике. Чем определяются особенности механической обработки кремниевых пластин?

Примеры устройств наноэлектроники.

Типы термодинамических процессов. Избыточные термодинамические функции.

Преимущества и недостатки метода пластины Вильгельми.

Каковы главные преимущества и недостатки СТМ в сравнении с АСМ?

На чем основана электронная Оже-спектроскопия, каково пространственное разрешение?