Программа Метрологическое обеспечение инновационных технологий 152200 март 2013 (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 3

- Письменная контрольная работа (тест):

1. Каковы правовые основы метрологической деятельности?

2. Каковы правовые основы обеспечения единства измерений?

3. Охарактеризуйте научную базу стандартизации в области нанотехнологии.

4. Опишите характер требований нормативных документов в области стандартизации в сфере нанотехнологий.

Модуль 2 «Техническое обеспечение нанометрологии »

- Письменная контрольная работа (тест):

1. Какие из этих явлений свойственны для атомно-силовой микроскопии?

• невозможность обрабатывать образцы в атмосфере

• возможность проводить in-situ измерения

• получение одновременной информации о всей поверхности образца

• возможность измерения поверхностного заряда

• возможность измерения поверхностной проводимости

1. Какой из данных методов НЕ является двухпроходным методом АСМ?

• Магнитно-силовая микроскопия

• Контактная атомно-силовая микроскопия

• Электросиловая микроскопия

• Метод Кельвина

1. Как зависит сила туннельного тока в СТМ от расстояния между зондом и образцом в простейшей модели?

• Линейно

• Квадратично

• Экспоненциально

• Не зависит

1. Как называется задача, описывающая контакт кантилевера АСМ и образца с точки зрения теории упругости?

• Проблема Биннига

• Задача Герца

• Задача Гамакера

• Эта задача не имеет именного названия

1. Что обычно означает аббревиатура CBS применительно к сенсорным системам?

• Сенсоры, основанные на измерении тока (Current-based sensors)

• Сенсоры, основанные на кантилеверах (Cantilever-based sensors)

• Сенсоры, использующие ферменты в качестве биоматериала, то же что CABS (Catalytic activity based sensors)

• Химически связанные распознающие системы, то же что CBDS (Chemically bound detection systems)

1. Определить давление остаточных газов в вакуумной камере электронного спектрометра, необходимое для того, чтобы в ходе эксперимента поверхность исследуемого образца оставалась атомно-чистой.

Модуль 3 «Неопределенность и оценка точности измерения параметров нанообъектов и наноструктур »

- Письменная контрольная работа (тест):

1. При малых напряжениях и температуре туннельный ток I ∝ exp(− 2κd ). Считая потенциальный барьер между СТМ-зондом и образцом Δϕ = 4 эВ и точность задания туннельного тока ΔI / I = 2 %, определить чувствительность Δd СТМ к расстоянию до образца d.

2. Определить долю туннельного тока Ia / Imax на расстоянии одного атома a от центра полусферического платинового СТМ-зонда с радиусом закругления острия R ≈ 100 Å от максимального туннельного тока в центре острия Imax при СТМ–поверхности высоколегированного кремния n-типа (работа выхода ϕ = 5 эВ). Приложенное к зонду напряжение V = −1 В.

3. Объясните причину ассиметричной формы РФЭ спектров.

4. Каково пространственное разрешение метода ОЭС?

5. Почему оптические микроскопы не способны обеспечить атомное разрешение?

Модуль 4 «Метрологический контроль средств измерений в нанотехнологиях »

- Письменная контрольная работа (тест):

1. Что такое эталон единицы физической величины? Какие типы эталонов вам известны?

2. Что такое поверочная схема и для чего она предназначена? Какие существуют виды поверочных схем?

3. Что такое поверка средств измерений и какими способами она может проводиться?

4. Для чего используются стандартные образцы? Назовите их метрологические характеристики. Приведите пример стандартных образцов.

5. Приведите примеры аттестованных методик измерения.

6. Приведите примеры утвержденных средств измерений.

1. Образовательные технологии

При изучении дисциплины предусмотрены следующие активные и интерактивные формы проведения занятий:

1. Применение интерактивных анимированных разделов лекционного курса

2. Учебно-методический комплекс по изучению дисциплины

3. Активное обсуждение презентаций студентов по результатам выполнения домашних заданий и презентации рефератов

4. Работа в команде при подготовке аналитических обзоров и презентаций по полученным результатам.

1. Методическое обеспечение дисциплины

7.1. Основная учебная литература

1. Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н.Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела / Под ред. В.Д. Бормана: Учебное пособие. – М.: МИФИ, 2008. – 260 с.

2. Окрепилов В.В. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях. – С-Пб.: Наука, 2008. – 206 с.

7.2. Дополнительная учебная литература

1. Сергеев А. Г. Введение в нанометрологию: учеб. пособие / А. Г. Сергеев; Владим. гос. ун-т. – Владимир : Изд-во Владим. гос. ун-та, 2010. – 296с.

7.3. Кафедральные издания и методические материалы

1. Наборы электронных презентаций

2. Образцы выполнения домашних работ в виде аналитических обзоров и презентаций по ним.

7.4. Электронные ресурсы (с указанием названия и полного электронного адреса).

1. Федеральное Агентство по техническому регулированию и метрологии. http://www.gost.ru/wps/portal/

2. NT-MDT, СЗМ-методология, руководства пользователей, советы экспертов. http://www.ntmdt.ru/support

3. Нанометролог: базы данных для обеспечения единства измерений в наноиндустрии. http://www.nanometrolog.ru/

7.5. Литература по тематике научно-исследовательской работы (печатные издания и электронные ресурсы)

1. Материально-техническое обеспечение дисциплины

Методические материалы:

1. Учебно-методический комплекс по дисциплине, организованный в гипертекстовом формате.

2. Конспект лекций в электронном виде, раздаваемый студентам на первом занятии и обеспечивающий их самостоятельную работу.

3. Набор электронных презентаций для использования в аудиторных занятиях.

4. Набор оценочных средств для контроля усвоения материала дисциплины.

Используемое оборудование:

мультимедийный проектор.

Рецензент организация, должность, Ф.И.О. ______________

Председатель методической комиссии факультета ____

(Ф.И.О.) ___________________ «____» __________ 201_ г.

Декан факультета _______

(Ф.И.О.) ___________________ «____» __________ 201_ г.

СОГЛАСОВАНО:

Согласование с деканами выпускающих факультетов обязательно по всем дисциплинам

Декан (ы) факультета(ов) _______

(Ф.И.О.) ___________________ «____» __________ 201_ г.

Начальник Методического управления

Васильев Н.В. ___________________ «____» __________ 201_ г.

2

документ из 11 страниц