62457 (Испытания РЭСИ на сохраняемость, долговечность. Оценка и оформление результатов испытаний), страница 2

M[X'], σ₀ математическое ожидание и дисперсия исходного (гауссовского) распределения φ₀[Х].

По таблицам Лапласа находим число отбракованных (непринятых) изделий для области I:

и для области III

Иначе проводят контроль при наличии существенной погрешности измерений ПКГ. В этом случае, хотя изделия при разбраковке также разбивают на области I—III, распределение значений параметра в каждой из них, установленное по результатам измерений, не будет совпадать с распределением истинных значений этого параметра. Если отклонение значений параметра от границ поля допуска (±ε) превышает ошибку У измерения, можно считать, что отбраковка выполнена правильно. Если же это отклонение меньше ошибки измерения, отбраковка выполнена неверно, т. е. изделие является фактически годным. При существенных погрешностях измерений определенная часть годных изделий попадает в забракованные (риск поставщика), тогда как часть негодных изделий принимается (риск заказчика). На рис. 1 представлена плотность распределения вероятностей ПКГ после разбраковки при наличии существенных погрешностей измерений: σ_м /σ₀ = 1/4; - ε = - σ₀ +ε = + σ₀ ,

где σ_м — среднее квадратическое отклонение погрешностей измерений при гауссовском их распределении φ_м(У); σ₀ — среднее квадратическое отклонение значений параметров изделий при гауссовском их распределении φ₀(Х). Если общее число изделий в партии до разбраковки принять за единицу, то относительное число отбракованных (q_0тб), правильно оставленных (q_ост), неправильно отбракованных (фактически годных q_фг) и неправильно оставленных (фактически негодных q_фн) изделий можно вычислить с помощью следующих соотношений:

Рис 1 - 1-правильно оставленные; (годные) изделия; 2 — правильно отбракованные (негодные) изделий- 8 — неправильно оставленные (фактически негодные" изделия; 4 неправильно отбракованное (фактически годные) изделия

Плотность распределения вероятностей параметра X после разбраковки изделий при существенных погрешностях измерений (штриховой линией показана плотность распределения вероятностен параметра X после разбраковки изделий в отсутствие погрешностей измерений).

Под гарантированным полем допуска ±ε_г понимают допуск, превышение которого не гарантирует работоспособности изделия в период его эксплуата- ции. Однако гарантированный допуск устанавливают не только на выходные параметры готового изделия, но также и на параметры материалов, заготовок и полуфабрикатов. Гарантированный допуск выбирают с запасом, учитывающим старение изделия. Под производственным полем допуска ±ε_п понимают допуск, которым руководствуется поставщик в процессе производства изделий. Очевидно, что ε_п<ε_г.

С помощью графиков, представленных на рис. 2, можно решить ряд практических задач, например: при заданном гарантированном допуске на ПКГ изделия и с учетом конкретного значения точности измерительных средств определить риски поставщика и заказчика; при запланированном риске поставщика или заказчика и заданном гарантированном допуске определить точность измерительных средств и необходимый производственный допуск;

при запланированных рисках поставщика и заказчика и заданных гарантированном и производственном допусках определить необходимую точность измерительных средств.

Рис. 2. Кривые изменения рисков поставщика (а) и заказчика (б) в зависимости от величины допуска и точности измерения ПКГ изделий при ε_г=±0,25_σ0

ЛИТЕРАТУРА

1. Глудкин О.П. Методы и устройства испытания РЭС и ЭВС. – М.: Высш. школа., 2001 – 335 с

2. Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование/ под ред. А.И.Коробова М.: Радио и связь, 2002 – 272 с.

3. Млицкий В.Д., Беглария В.Х., Дубицкий Л.Г. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов. М.: Машиностроение, 2003 – 567 с

4. Национальная система сертификации Республики Беларусь. Мн.: Госстандарт, 2007

5. Федоров В., Сергеев Н., Кондрашин А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств – Техносфера, 2005. – 504с.