Реферат: Разработка аппаратной части систем измерения скалярных параметров СВЧ устройств на базе современных микроконтроллеров

Разработка аппаратной части систем измерения скалярных параметров СВЧ устройств на базе современных микроконтроллеров

Содержание

• Реферат
• введение
• 1Описание технологического процесса
• 1.1Классификация аппаратуры измерения комплексных параметров СВЧ сигнала
• 1.2Основные характеристики применяемых измерительных приборов
• 1.3Краткое описание процесса измерения
• 1.4Экономическое обоснование
• 2Требования к разрабатываемой системе и постановка задачи
• 2.1Постановка задачи
• 2.2Требования к разработке аппаратной части
• 2.3Требования к разработке программного обеспечения
• 3Техническое задание
• 3.1Основание для проектирования
• 3.1.1 Состав каждого комплекта прибора и требования к конструкции
• 3.2Тактико-технические требования
• 3.2.1Требования к параметрам и характеристикам измерителей коэффициента передачи и отражения (приборы группы Р2-).
• 3.2.2 Режимы работы приборов группы Р2-.
• 3.2.3Пределы допускаемой основной погрешности измерений
• 3.2.4 Требования к техническому уровню
• 3.2.5 Требования к надежности
• 3.2.6 Требования к технологичности конструкции
• 3.2.7 Требования к уровню унификации и стандартизации
• 3.2.8 Эстетические и экономические требования
• 3.2.9Условия эксплуатации.
• 3.2.10Требования к упаковке и маркировке
• 4Разработка аппаратной части измерительной системы Р2- «Растр»
• 4.1Выбор структуры измерительной системы Р2- «Растр»
• 4.2Обоснование выбора технических средств
• 4.3Разработка принципиальной схемы
• 5Расчет надежности
• Заключение
• Список используемых источников
• Приложение А – Исходные данные для расчета надежности.
• Приложение Б – Расчет надежности измерительной части Р2- «Растр».
• спецификация