Для студентов МГИМО по предмету ДругиеВерификация и валидация системных решений для программно-аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхеВерификация и валидация системных решений для программно-аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхе
2024-09-292024-09-29СтудИзба
Верификация и валидация системных решений для программно-аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем
Описание
Реферат
Курсовой проект содержит 49 страниц, 8 рисунков, 12 таблиц, 12 источников, 5 приложений.
ПРОГРАММНО – АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС, ДИНАМИЧЕСКИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ, ЦИФРОВАЯ МИКРОСХЕМА, ЗАИНТЕРЕСОВАННЫЕ СТОРОНЫ, ТРЕБОВАНИЯ, ВЕРИФИКАЦИЯ, ВАЛИДАЦИЯ.
Объект разработки - программно-аппаратный комплекс для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Предметом разработки является верификация и валидация системных решений для программно-аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Цель работы – составление плана верификации и отчета о верификации, разработка программы и методики испытаний программно – аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Для выполнения курсовой работы использовались теоретические методы исследования – интервью, системный анализ, моделирование системы на уровне анализа применения, изучение и анализ литературы.
В результате выполнения работы были созданы план верификации, программа и методика испытаний, отчет о верификации.
Предмет разработки может быть использован при приёмке реальных программно – аппаратных комплексов.
Содержание
Перечень сокращений и обозначений
Введение
1. Описание концепции системы и контекстная диаграмма системы с представлением всех заинтересованных сторон
2. Спецификация требований к системе
2.1 Заинтересованные стороны, проблемы, потребности, цели создания системы
2.2 Возможности применения системы
2.3 Метрики достижения цели
2.4 Функции системы и соответствующие функциональные требования
2.5 Требования к данным
2.6 Требования к качеству
2.7 Условия функционирования системы
2.8 Ограничения проектирования и использования системы
3. План верификации
4. Программа и методика испытаний
4.1 Объект испытаний
4.1.1 Наименование системы
4.1.2 Комплектность испытательной системы
4.2 Цель испытаний
4.3 Общие положения
4.3.1 Перечень руководящих документов, на основании которых проводят испытания
4.3.2 Место и продолжительность испытаний
4.3.3 Организации, участвующие в испытаниях
4.3.4 Перечень предъявляемых на испытания документов
4.4 Объем испытаний
4.4.1 Перечень этапов испытаний и проверок, а также количественные и качественные характеристики, подлежащие оценке.
4.4.2 Последовательность проведения и режима испытаний
4.4.3 Требования по испытаниям программных средств
4.4.4 Перечень работ, проводимых после завершения испытаний, требования к ним, объем и порядок проведения
4.5 Условия и порядок проведения испытаний
4.5.1 Условия проведения испытаний
4.5.2 Условия начала и завершения отдельных этапов испытаний
4.5.3 Имеющиеся ограничения в условиях проведения испытаний
4.5.4 Требования к техническому обслуживанию системы
4.5.5 Меры, обеспечивающие безопасность и безаварийность проведения испытаний
4.6 Материально-техническое обеспечение испытаний
4.6.1 Технические средства, используемые во время испытаний
4.6.2 Программные средства, используемые во время испытаний
4.7 Метрологическое обеспечение испытаний
4.8 Отчетность
5. Отчет о верификации
Заключение
Список использованных источников
Приложение А Протокол интервью Заинтересованных сторон
Приложение Б Методика проверки комплектности документации
Приложение В Методика проверки комплектности, состава и функциональности технических и программных средств
Приложение Г Протокол испытаний
Приложение Д Акт о результатах испытаний
ЦМС – цифровая микросхема;
ПО – программное обеспечение;
ПК – персональный компьютер;
ОС – операционная система;
ЗС – заинтересованная сторона;
*И – интервью;
ID – уникальный номер;
СО – основной сценарий;
СВ – вспомогательный сценарий;
ПКиУ – подсистема контроля и управления;
ПФиРС – подсистема формирования и регистрации сигналов;
ППС – подсистема передачи сигналов;
Научно-технический центр ОАО «ТехРешения» – далее Исполнитель;
Предприятие N – далее Заказчик;
Оборудование рабочих мест пользователей – ПК, приборы (генератор сигналов, источник питания, осциллограф, мультиметр);
ДЭ характеристики – динамические электрические характеристики.
Введение
Целевой системой в данной работе является программно-аппаратный комплекс для обеспечения проверки цифровых микросхем на предмет соответствия динамических электрических характеристик эталонным.
Динамические параметры характеризуют быстродействие цифровой микросхемы и её устойчивость к воздействию импульсных помех. Основными динамическими характеристиками являются:
· t1,0 — время перехода сигнала на выходе микросхемы из состояния логической 1 в состояние логического 0;
· t0,1 — время перехода сигнала на выходе микросхемы из состояния логического 0 в состояние логической 1;
· t1,0зд.р — время задержки распространения при включении;
· t1,0зд — время задержки включения;
· t0,1зд.р — время задержки распространения при выключении;
· t0,1зд — время задержки выключения;
· tзд.р.ср — среднее время задержки распространения сигнала;
· fp— рабочая частота.
Осуществление тестирования и контроля ЦМС является неотъемлемой частью в их производстве и серийном изготовлении. Контроль динамических характеристик ЦМС очень важен, поскольку позволяет оценить такие важные характеристики как время обработки информации микросхемой и соответствие характеристик заявленным в документации.
Суть метода изображена на рисунке 1 и заключается в подаче контрольных воздействий на входы цифровой микросхемы, регистрации на её выходах ответных реакций и их проверке на соответствие паспортным эталонным значениям. При вхождении ответных реакций в диапазон эталонных значений устройство признается исправным.
Курсовой проект содержит 49 страниц, 8 рисунков, 12 таблиц, 12 источников, 5 приложений.
ПРОГРАММНО – АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС, ДИНАМИЧЕСКИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ, ЦИФРОВАЯ МИКРОСХЕМА, ЗАИНТЕРЕСОВАННЫЕ СТОРОНЫ, ТРЕБОВАНИЯ, ВЕРИФИКАЦИЯ, ВАЛИДАЦИЯ.
Объект разработки - программно-аппаратный комплекс для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Предметом разработки является верификация и валидация системных решений для программно-аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Цель работы – составление плана верификации и отчета о верификации, разработка программы и методики испытаний программно – аппаратного комплекса для контроля динамических электрических характеристик цифровых микросхем.
Для выполнения курсовой работы использовались теоретические методы исследования – интервью, системный анализ, моделирование системы на уровне анализа применения, изучение и анализ литературы.
В результате выполнения работы были созданы план верификации, программа и методика испытаний, отчет о верификации.
Предмет разработки может быть использован при приёмке реальных программно – аппаратных комплексов.
Содержание
Перечень сокращений и обозначений
Введение
1. Описание концепции системы и контекстная диаграмма системы с представлением всех заинтересованных сторон
2. Спецификация требований к системе
2.1 Заинтересованные стороны, проблемы, потребности, цели создания системы
2.2 Возможности применения системы
2.3 Метрики достижения цели
2.4 Функции системы и соответствующие функциональные требования
2.5 Требования к данным
2.6 Требования к качеству
2.7 Условия функционирования системы
2.8 Ограничения проектирования и использования системы
3. План верификации
4. Программа и методика испытаний
4.1 Объект испытаний
4.1.1 Наименование системы
4.1.2 Комплектность испытательной системы
4.2 Цель испытаний
4.3 Общие положения
4.3.1 Перечень руководящих документов, на основании которых проводят испытания
4.3.2 Место и продолжительность испытаний
4.3.3 Организации, участвующие в испытаниях
4.3.4 Перечень предъявляемых на испытания документов
4.4 Объем испытаний
4.4.1 Перечень этапов испытаний и проверок, а также количественные и качественные характеристики, подлежащие оценке.
4.4.2 Последовательность проведения и режима испытаний
4.4.3 Требования по испытаниям программных средств
4.4.4 Перечень работ, проводимых после завершения испытаний, требования к ним, объем и порядок проведения
4.5 Условия и порядок проведения испытаний
4.5.1 Условия проведения испытаний
4.5.2 Условия начала и завершения отдельных этапов испытаний
4.5.3 Имеющиеся ограничения в условиях проведения испытаний
4.5.4 Требования к техническому обслуживанию системы
4.5.5 Меры, обеспечивающие безопасность и безаварийность проведения испытаний
4.6 Материально-техническое обеспечение испытаний
4.6.1 Технические средства, используемые во время испытаний
4.6.2 Программные средства, используемые во время испытаний
4.7 Метрологическое обеспечение испытаний
4.8 Отчетность
5. Отчет о верификации
Заключение
Список использованных источников
Приложение А Протокол интервью Заинтересованных сторон
Приложение Б Методика проверки комплектности документации
Приложение В Методика проверки комплектности, состава и функциональности технических и программных средств
Приложение Г Протокол испытаний
Приложение Д Акт о результатах испытаний
Перечень сокращений и обозначений
ЦМС – цифровая микросхема;
ПО – программное обеспечение;
ПК – персональный компьютер;
ОС – операционная система;
ЗС – заинтересованная сторона;
*И – интервью;
ID – уникальный номер;
СО – основной сценарий;
СВ – вспомогательный сценарий;
ПКиУ – подсистема контроля и управления;
ПФиРС – подсистема формирования и регистрации сигналов;
ППС – подсистема передачи сигналов;
Научно-технический центр ОАО «ТехРешения» – далее Исполнитель;
Предприятие N – далее Заказчик;
Оборудование рабочих мест пользователей – ПК, приборы (генератор сигналов, источник питания, осциллограф, мультиметр);
ДЭ характеристики – динамические электрические характеристики.
Введение
Целевой системой в данной работе является программно-аппаратный комплекс для обеспечения проверки цифровых микросхем на предмет соответствия динамических электрических характеристик эталонным.
Динамические параметры характеризуют быстродействие цифровой микросхемы и её устойчивость к воздействию импульсных помех. Основными динамическими характеристиками являются:
· t1,0 — время перехода сигнала на выходе микросхемы из состояния логической 1 в состояние логического 0;
· t0,1 — время перехода сигнала на выходе микросхемы из состояния логического 0 в состояние логической 1;
· t1,0зд.р — время задержки распространения при включении;
· t1,0зд — время задержки включения;
· t0,1зд.р — время задержки распространения при выключении;
· t0,1зд — время задержки выключения;
· tзд.р.ср — среднее время задержки распространения сигнала;
· fp— рабочая частота.
Осуществление тестирования и контроля ЦМС является неотъемлемой частью в их производстве и серийном изготовлении. Контроль динамических характеристик ЦМС очень важен, поскольку позволяет оценить такие важные характеристики как время обработки информации микросхемой и соответствие характеристик заявленным в документации.
Суть метода изображена на рисунке 1 и заключается в подаче контрольных воздействий на входы цифровой микросхемы, регистрации на её выходах ответных реакций и их проверке на соответствие паспортным эталонным значениям. При вхождении ответных реакций в диапазон эталонных значений устройство признается исправным.
Характеристики курсовой работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Просмотров
1
Размер
352,42 Kb
Список файлов
ОСНОВЫ МАТЕРИНСТВА И ВЗАИМОСВЯЗЬ С МЕТОДИКАМИ РАННЕГО ДЕТСКОГО РАЗВИТИЯ.docx