СтудИзба » ВУЗы » МГТУ им. Баумана » Файлы МГТУ им. Баумана » 6 семестр » Методы диагностики в нанотехнологиях » Книги и методические указания » Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии

Иванов Ю.А. - Исследование поверхности методом атомно-силовой микроскопии

ВУЗ Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
Семестр 6 семестр
Предмет Методы диагностики в нанотехнологиях
Категория Книги и методические указания
Дата 28 декабря 2017 в 08:58 Размер 6,43 Mb
Просмотров 202 Скачиваний 6
Качество Качество не указано Комментариев 0
Рейтинг
- из 5
Автор zzyxel 4,56 из 5
Файл проверен администрацией в том числе на вирусы с помощью EsetNod32.
Описание файла отсутствует

Данный файл также доступен в разделе "книги и методические указания", в предмете "методы диагностики в нанотехнологиях" в общих файлах.

Рекомендуем также

Для добавления файла нужно быть зарегистрированным пользователем. Зарегистрироваться и авторизоваться можно моментально через социальную сеть "ВКонтакте" по кнопке ниже:

Войти через
или

Вы можете зарегистрироваться стандартным методом и авторизоваться по логину и паролю с помощью формы слева.

Не забывайте, что на публикации файлов можно заработать.