Экзаменационные вопросы
Описание файла
Документ из архива "Экзаменационные вопросы", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "техника эксперимента в электронике и наноэлектронике" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "к экзамену/зачёту", в предмете "техника эксперимента в электронике и наноэлектронике" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Экзаменационные вопросы"
Текст из документа "Экзаменационные вопросы"
Вопросы
1. Понятие о сложных системах. Классификация входных факторов в сложных системах.
2. Регрессионный анализ. Определение параметров уравнения регрессии с помощью метода наименьших квадратов.
3. Детерминированные и стохастические процессы. Точность результатов измерений.
4. ПФЭ: оценка значимости коэффициентов уравнения регрессии и адекватности модели. Анализ возможных причин незначимости коэффициентов и неадекватности модели.
5. Методологические концепции экспериментальных исследований.
6. ПФЭ: цель, составление матрицы планирования, определение значений коэффициентов уравнения регрессии.
7. Использование критерия Фишера при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
8. Центральное композиционное ортогональное планирование эксперимента: составление матрицы планирования, обратное преобразование модели, достоинства, недостатки.
9. Порядок первичной обработки и анализа результатов эксперимента.
10. Центральное композиционное рототабельное планирование эксперимента: составление матрицы, определение адекватности модели, достоинства, недостатки.
11. Выявление значимых факторов: однофакторный дисперсионный анализ.
12. Центральное композиционное планирование эксперимента: назначение, сравнение с ПФЭ, определение количества опытов.
13.Выявление значимых факторов: двухфакторный ДА при отсутствии эффекта взаимодействия факторов.
14. Устойчивость и стабильность технологических процессов.
15. Выявление значимых факторов: метод ранговой корреляции.
16. Использование критерия Кохрена при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
17. Использование критерия Стьюдента при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
18. Оптимизация по методу Гаусса-Зайделя.
19. Методология планирования эксперимента. Порядок планирования эксперимента.
20. Оптимизация по методу градиента.
21. Анализ технологических процессов с помощью теоретических схем возникновения производственных погрешностей.
22. Оптимизация по методу случайного поиска.
23. Пассивный и активный эксперименты, их достоинства и недостатки. Типы производственных погрешностей и их источники.
24. Многопараметрическая оптимизация, обобщенный параметр оптимизации .
25. Исследование технологических процессов с помощью точностных диаграмм.
26. Оптимизация по методу крутого восхождения.
27. Регрессионный анализ. Проверка адекватности уравнения регрессии, созданного по методу наименьших квадратов.
28 Оптимизация по методу Кифера-Вольфовица..
Задачи
Билет 6. Оцените расхождение средних значений сопротивлений между двумя партиями резисторов.
Результаты измерений, 0м:
984 961 982 1110 1064
1054 988 986 993 986
Билет 3. Определить правильность настройки на величину 1000 Ом установки для напыления резисторов.
Результаты измерений, 0м:
1068 1054 974 986 989 987 1019 1141 1048 983
Билет 2. Определите границы существования истинного значения математического ожидания для выборки, в которую входят результаты замеров партии резисторов при доверительной вероятности 0,95.
Результаты измерений, 0м:
1054 988 986 993 986 1011 1020 1114 1068 894
Билет 1. Определите наличие грубых ошибок в выборке из замеров партии резисторов.
Результаты измерений, 0м:
1044 1038 1014 1034 999 1007 1010 1068 998 1008
Билет 5. Определите, одинакова или различна точность замеров двух партий резисторов.
Результаты измерений, 0м:
998 1008 1002 1012 1052
992 1001 1000 1014 1041
Билет 13. Определите, одинакова или различна точность замеров некоторых партий резисторов.
Результаты измерений, 0м:
971 992 989 984 1031
921 842 986 983 1044
968 984 983 984 1018
Билет 8. Определите величину доверительного интервала для коэффициентов уравнения регрессии, если известно, что эксперимент проводился по плану ПФЭ, число факторов равнялось 3, количество параллельных наблюдений в каждом опыте – 4, S2(y) = 0,09.
Билет 9. Сколько замеров исследуемого параметра качества придется доделать исследователю при переходе от ПФЭ к ЦКОП при составлении модели для шести факторов? При необходимости укажите интервал значений.
Билет 11. Методом ПФЭ исследуется микросварка на УЗ установке проводников со слоем Al, напыленным на термически окисленную пластину Si. Параметр оптимизации – среднее значение нагрузки для отрыва проводника в направлении нормали к поверхности пластины. Факторы: Х1 – температура подогрева пластины, 0С, Х2 – усилие сжатия проводника во время сварки.
Определить значения коэффициентов уравнения регрессии.
Уровни факторов:
Уровень | Х1 , 0С | Х2, Н |
Основной | 100 | 30 |
Верхний | 125 | 35 |
Нижний | 75 | 25 |
Результаты экспериментов:
Х1 , 0С | Х2, Н | У1, Н | У2, Н |
75 | 25 | 60 | 62 |
75 | 35 | 66 | 68 |
125 | 25 | 67 | 67 |
125 | 35 | 76 | 74 |
Билет 10. Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить остаточную дисперсию, характеризующую рассеяние параметра качества по модулю.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет 12. Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить дисперсию, связанную с воспроизводимостью от партии к партии.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет 14. Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить дисперсию, связанную с воспроизводимостью от модуля к модулю.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет 7. В результате исследования некоторого технологического процесса было получено описание исследуемой области: у=10+3х1+1,5х2, где у – теоретическое значение некоторого параметра качества (параметра оптимизации), х1 – безразмерное значение фактора температуры, варьируемое в диапазоне 350-450К, х2 – безразмерное значение фактора времени, варьируемого в диапазоне 2-4 мин. Какие значения факторов времени и температуры следует принять в качестве начальных при движении к минимуму параметра оптимизации? Чему будет равно рассчитываемое значение параметра оптимизации в первом реализуемом опыте при использовании метода крутого восхождения?
Билет 4. В результате исследования некоторого технологического процесса было получено описание исследуемой области: у=10+3х1-6х2, где у – теоретическое значение некоторого параметра качества (параметра оптимизации), х1 – безразмерное значение фактора температуры, варьируемое в диапазоне 350-450К, х2 – безразмерное значение фактора времени, варьируемого в диапазоне 2-6 мин. Какие значения факторов времени и температуры следует принять в качестве начальных при движении к максимуму параметра оптимизации? Чему будет равно рассчитываемое значение параметра оптимизации в первом реализуемом опыте при использовании метода крутого восхождения?