Вопросы и билеты к экзамену
Описание файла
Документ из архива "Вопросы и билеты к экзамену", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "техника эксперимента в электронике и наноэлектронике" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "к экзамену/зачёту", в предмете "техника эксперимента в электронике и наноэлектронике" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Вопросы и билеты к экзамену"
Текст из документа "Вопросы и билеты к экзамену"
Вопросы
1. Понятие о сложных системах. Классификация входных факторов в сложных системах.
2. Регрессионный анализ. Определение параметров уравнения регрессии с помощью метода наименьших квадратов.
3. Детерминированные и стохастические процессы. Точность результатов измерений.
4. ПФЭ: оценка значимости коэффициентов уравнения регрессии и адекватности модели. Анализ возможных причин незначимости коэффициентов и неадекватности модели.
5. Методологические концепции экспериментальных исследований.
6. ПФЭ: цель, составление матрицы планирования, определение значений коэффициентов уравнения регрессии.
7. Использование критерия Фишера при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
8. Центральное композиционное ортогональное планирование эксперимента: составление матрицы планирования, обратное преобразование модели, достоинства, недостатки.
9. Порядок первичной обработки и анализа результатов эксперимента.
10. Центральное композиционное рототабельное планирование эксперимента: составление матрицы, определение адекватности модели, достоинства, недостатки.
11. Выявление значимых факторов: однофакторный дисперсионный анализ.
12. Центральное композиционное планирование эксперимента: назначение, сравнение с ПФЭ, определение количества опытов.
13.Выявление значимых факторов: двухфакторный ДА при отсутствии эффекта взаимодействия факторов.
14. Устойчивость и стабильность технологических процессов.
15. Выявление значимых факторов: метод ранговой корреляции.
16. Использование критерия Кохрена при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
17. Использование критерия Стьюдента при статистической проверке гипотез о свойствах эксперимента.
18. Оптимизация по методу Гаусса-Зайделя.
19. Методология планирования эксперимента. Порядок планирования эксперимента.
20. Оптимизация по методу градиента.
21. Анализ технологических процессов с помощью теоретических схем возникновения производственных погрешностей.
22. Оптимизация по методу случайного поиска.
23. Пассивный и активный эксперименты, их достоинства и недостатки. Типы производственных погрешностей и их источники.
24. Многопараметрическая оптимизация, обобщенный параметр оптимизации .
25. Исследование технологических процессов с помощью точностных диаграмм.
26. Оптимизация по методу крутого восхождения.
27. Регрессионный анализ. Проверка адекватности уравнения регрессии, созданного по методу наименьших квадратов.
28 Оптимизация по методу Кифера-Вольфовица..
Задачи
Билет . Оцените расхождение средних значений сопротивлений между двумя партиями резисторов.
Результаты измерений, 0м:
984 961 982 1110 1064
1054 988 986 993 986
Билет . Определить правильность настройки на величину 1000 Ом установки для напыления резисторов.
Результаты измерений, 0м:
1068 1054 974 986 989 987 1019 1141 1048 983
Билет . Определите границы существования истинного значения математического ожидания для выборки, в которую входят результаты замеров партии резисторов при доверительной вероятности 0,95.
Результаты измерений, 0м:
1054 988 986 993 986 1011 1020 1114 1068 894
Билет . Определите наличие грубых ошибок в выборке из замеров партии резисторов.
Результаты измерений, 0м:
1044 1038 1014 1034 999 1007 1010 1068 998 1008
Билет . Определите, одинакова или различна точность замеров двух партий резисторов.
Результаты измерений, 0м:
998 1008 1002 1012 1052
992 1001 1000 1014 1041
Билет . Определите, одинакова или различна точность замеров некоторых партий резисторов.
Результаты измерений, 0м:
971 992 989 984 1031
921 842 986 983 1044
968 984 983 984 1018
Билет . Определите величину доверительного интервала для коэффициентов уравнения регрессии, если известно, что эксперимент проводился по плану ПФЭ, число факторов равнялось 3, количество параллельных наблюдений в каждом опыте – 4, S2(y) = 0,09.
Билет . Сколько замеров исследуемого параметра качества придется доделать исследователю при переходе от ПФЭ к ЦКОП при составлении модели для шести факторов? При необходимости укажите интервал значений.
Билет . Методом ПФЭ исследуется микросварка на УЗ установке проводников со слоем Al, напыленным на термически окисленную пластину Si. Параметр оптимизации – среднее значение нагрузки для отрыва проводника в направлении нормали к поверхности пластины. Факторы: Х1 – температура подогрева пластины, 0С, Х2 – усилие сжатия проводника во время сварки.
Определить значения коэффициентов уравнения регрессии.
Уровни факторов:
Уровень | Х1 , 0С | Х2, Н |
Основной | 100 | 30 |
Верхний | 125 | 35 |
Нижний | 75 | 25 |
Результаты экспериментов:
Х1 , 0С | Х2, Н | У1, Н | У2, Н |
75 | 25 | 60 | 62 |
75 | 35 | 66 | 68 |
125 | 25 | 67 | 67 |
125 | 35 | 76 | 74 |
Билет . Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить остаточную дисперсию, характеризующую рассеяние параметра качества по модулю.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет . Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить дисперсию, связанную с воспроизводимостью от партии к партии.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет . Исследуется параметр качества изделий, изготовленных в двух идентичных технологических режимах (партиях). В каждой партии изготовлено по 2 модуля, в модуле- 3 элемента. Экспериментальные данные приведены в таблице. Требуется определить дисперсию, связанную с воспроизводимостью от модуля к модулю.
№ партии | № модуля | Параллельные наблюдения в модуле (элементы) | ||
1 | 11 12 | 6,16 6,71 | 6,24 6,60 | 6,29 6,69 |
2 | 21 22 | 5,75 6,05 | 5,91 6,20 | 6,92 6,00 |
Билет 7. В результате исследования некоторого технологического процесса было получено описание исследуемой области: у=10+3х1+1,5х2, где у – теоретическое значение некоторого параметра качества (параметра оптимизации), х1 – безразмерное значение фактора температуры, варьируемое в диапазоне 350-450К, х2 – безразмерное значение фактора времени, варьируемого в диапазоне 2-4 мин. Какие значения факторов времени и температуры следует принять в качестве начальных при движении к минимуму параметра оптимизации? Чему будет равно рассчитываемое значение параметра оптимизации в первом реализуемом опыте при использовании метода крутого восхождения?
Билет 4. В результате исследования некоторого технологического процесса было получено описание исследуемой области: у=10+3х1-6х2, где у – теоретическое значение некоторого параметра качества (параметра оптимизации), х1 – безразмерное значение фактора температуры, варьируемое в диапазоне 350-450К, х2 – безразмерное значение фактора времени, варьируемого в диапазоне 2-6 мин. Какие значения факторов времени и температуры следует принять в качестве начальных при движении к максимуму параметра оптимизации? Чему будет равно рассчитываемое значение параметра оптимизации в первом реализуемом опыте при использовании метода крутого восхождения?